ГОСТ 4.64-80 Система показателей качества продукции (СПКП). Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей (с Изменением N 1)

Документ «ГОСТ 4 64 80 Система показателей качества продукции СПКП Полупроводниковые материалы Номенклатура показателей с Изменением N 1» предназначен для установления единой системы показателей качества полупроводниковых материалов. Он охватывает основные аспекты, связанные с оценкой и контролем качества продукции в данной области, а также определяет номенклатуру показателей, которые должны применяться в процессе производства и тестирования полупроводниковых материалов.

Основные регламентируемые аспекты стандарта включают методы испытаний, параметры, которые необходимо учитывать, и требования к процессам контроля качества. В документе предусмотрены четкие процедуры, которые должны соблюдаться для обеспечения соответствия продукции установленным нормам. Это позволяет производителям и лабораториям осуществлять качественную оценку полупроводниковых материалов на всех этапах их жизненного цикла.

Ключевыми техническими деталями, описанными в стандарте, являются условия испытаний, классификация материалов, а также измеряемые величины, такие как электрические и физические характеристики. Эти параметры имеют важное значение для обеспечения надежности и эффективности полупроводниковых компонентов, используемых в различных отраслях, включая электронику и энергетические системы.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, научно-исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за мониторинг и сертификацию продукции. Стандарт служит основой для разработки и внедрения систем управления качеством, что способствует повышению уровня доверия к продукции на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых материалов, что, в свою очередь, отражается на надежности конечной продукции. Соблюдение требований ГОСТ позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией полупроводниковых устройств, а также способствует улучшению условий труда на производственных предприятиях. Изменение N 1, внесенное в стандарт, уточняет некоторые параметры и процедуры, что позволяет адаптировать его к современным требованиям и технологиям.