ГОСТ 18683.1-83 (СТ СЭВ 3197-81) Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров - Информпроект Групп
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 18683.1-83 (СТ СЭВ 3197-81) Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров

ГОСТ 18683.1-83 (СТ СЭВ 3197-81) Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров


ГОСТ 18683.1-83
(CT СЭВ 3197-81)

Группа Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ЦИФРОВЫЕ

Методы измерения статических электрических параметров

Digital integrated circuits. Methods for measuring static electrical parameters


ОКП 62 3100

Дата введения 1984-01-01

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11 апреля 1983 г. N 1688 срок введения установлен с 01.01.84

ПРОВЕРЕН в 1988 г. Постановлением Госстандарта СССР от 28.06.88 N 2432 срок действия продлен до 01.01.94*

________________

* Ограничение срока действия снято по протоколу N 3-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС N 5/6, 1993 год). - Примечание изготовителя базы данных.     

ВЗАМЕН ГОСТ 18683-76 (в части пп.3.1-3.10)



Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (далее - микросхемы) и устанавливает методы измерения статических электрических параметров микросхем.

Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 18683.0-83.

Стандарт соответствует СТ СЭВ 3197-81 в части измерения статических электрических параметров микросхем (см. приложение).



1. ИЗМЕРЕНИЕ ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ, ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ ПРИ ВЫСОКОМ УРОВНЕ ВЫХОДНОГО НАПРЯЖЕНИЯ И ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ ПРИ НИЗКОМ УРОВНЕ ВЫХОДНОГО НАПРЯЖЕНИЯ

1.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.1.




, - источники постоянного напряжения; - измеритель постоянного тока; - микросхема

Черт.1

Примечание. Допускается к выходу микросхемы при измерении подключать нагрузку.



1.2. Подготовка к измерениям

1.2.1. Подготавливают измерительную установку к работе.

1.2.2. Подключают микросхему к измерительной установке.

1.3. Проведение измерений

1.3.1. На микросхему подают напряжение питания от источника и входные напряжения от источника , значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.3.2. Измеряют ток измерителем .

1.4. Показатели точности измерения

1.4.1. Погрешность измерения тока потребления, тока потребления при высоком уровне выходного напряжения и тока потребления при низком уровне выходного напряжения должна быть в пределах ±5% и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.4.2. Доверительную вероятность погрешности измерения выбирают из ряда: 0,950; 0,990; 0,997.

Конкретное значение доверительной вероятности устанавливают в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.4.3. Границы интервала погрешности измерения тока потребления (тока потребления при высоком уровне выходного напряжения, тока потребления при низком уровне выходного напряжения) определяют по формуле

,                     (1)



где - относительный коэффициент влияния напряжения питания на -м выводе питания на измеряемый параметр;
           

- относительный коэффициент влияния входного напряжения на -м входе на измеряемый параметр;

          

- относительный коэффициент влияния параметра нагрузки на измеряемый параметр;

          

- относительный коэффициент влияния температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы на измеряемый параметр;

          

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 18683.1-83 (СТ СЭВ 3197-81) Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров
Номер документа
18683.1-83
Вид документа
Нормативно-технический документ
Принявший орган
Применяется с 01.01.1984
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 18683 1 83 СТ СЭВ 3197 81» регламентирует методы измерения статических электрических параметров интегральных цифровых микросхем. Основное назначение стандарта заключается в установлении единых требований и методик, которые обеспечивают точность и воспроизводимость измерений, что критически важно для разработки и контроля качества электронных компонентов. Сфера применения данного документа охватывает как научные исследования, так и промышленное производство, включая предприятия, занимающиеся разработкой и испытанием микросхем.

В стандарте описаны ключевые аспекты, такие как методы измерения статических электрических параметров, включая напряжение, ток, сопротивление и другие характеристики, определяющие функциональные возможности микросхем. Регламентируются также требования к условиям испытаний, что включает в себя температурные и влажностные режимы, а также электрические условия, при которых проводятся измерения. Это обеспечивает высокую степень достоверности полученных результатов и их сопоставимость между различными лабораториями и производственными площадками.

Документ ориентирован на широкий круг специалистов, включая производителей интегральных схем, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и качеством продукции. Стандарт служит основой для обеспечения совместимости изделий и их соответствия установленным требованиям, что в свою очередь способствует повышению уровня безопасности и качества электрических устройств, в которых используются данные микросхемы.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, что особенно важно в условиях современного рынка, где требования к надежности и долговечности электроники постоянно растут. Соблюдение установленных методов и процедур позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией электронных устройств, а также обеспечивает соответствие международным стандартам. При этом документ может быть подвергнут изменениям или дополнениям, которые будут отражать новые достижения в области технологий и методов измерений.

Таким образом, «ГОСТ 18683 1 83 СТ СЭВ 3197 81» представляет собой важный инструмент для специалистов в области разработки и контроля качества интегральных микросхем, способствуя улучшению процессов измерений и повышению общего уровня надежности и безопасности электронных устройств.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ГОСТ 26321-84 Система сигнализации типа D для вторичной телеграфной сети ВАКСС. Технические требования PDF ГОСТ 26315-84 (СТ СЭВ 4265-83) Оборудование групповых и линейных трактов систем передачи с частотным разделением каналов. Нормы на номинальные относительные уровни. Номинальные относительные уровни сигналов передачи и входные и выходные сопротивления в точках взаимного соединения (с Изменением N 1) PDF ГОСТ 25872-83 Аппаратура факсимильная со средствами сокращения избыточности для передачи и приема метеорологических карт. Основные параметры PDF ГОСТ 18683.2-83 (СТ СЭВ 3197-81) Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров (с Изменениями N 1, 2) PDF ГОСТ 26348-84 Аппаратура факсимильная со средствами сокращения избыточности для передачи и приема документов. Основные параметры PDF ГОСТ 26631-85 Аппаратура факсимильная со средствами сокращения избыточности для передачи и приема фотофаксимильной информации. Основные параметры (с Изменениями № 1, 2)