Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ Р 8.716-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Рефлектометры экстремального ультрафиолетового излучения для измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Методика измерений

Название документа
ГОСТ Р 8.716-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Рефлектометры экстремального ультрафиолетового излучения для измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Методика измерений
Номер документа
8.716-2010
Вид документа
Нормативно-технический документ
Принявший орган
Росстандарт
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ Р 8 716 2010» устанавливает методику измерений для рефлектометров экстремального ультрафиолетового излучения, предназначенных для анализа характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении единства измерений в данной области, что способствует повышению точности и надежности результатов, получаемых в научных и производственных лабораториях.

Стандарт регламентирует методы измерений, параметры, требования и процедуры, которые должны соблюдаться при проведении испытаний. В частности, описываются условия, при которых проводятся измерения, а также необходимые технические характеристики оборудования, используемого для анализа. Ключевыми аспектами являются точность измерений, стабильность источников ультрафиолетового излучения и методы калибровки приборов.

К важным техническим деталям относятся условия испытаний, такие как температура, влажность и уровень фона, которые могут влиять на результаты измерений. Также документ описывает классификации измеряемых величин, включая отражение и поглощение света, что позволяет более детально анализировать свойства наноструктур. Эти параметры критически важны для обеспечения корректности и воспроизводимости результатов.

Целевой аудиторией стандарта являются производители рефлектометров, научные и исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и аккредитацией измерительных средств. Стандарт служит основой для разработки новых методов и технологий в области наноматериалов, а также для повышения уровня квалификации специалистов, работающих в данной сфере.

Практическое значение данного стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество проводимых измерений, что, в свою очередь, способствует улучшению условий труда и охраны окружающей среды. Использование стандартизированных методов позволяет обеспечить совместимость различных систем и приборов, что является важным аспектом в условиях глобализации научных исследований. В последующих версиях документа могут быть внесены изменения, касающиеся уточнения методик и расширения диапазонов измерений, что позволит адаптировать стандарт к современным требованиям науки и техники.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.