Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ОСТ 11 073.013-2008 Микросхемы интегральные. Методы испытаний. Электротермотренировка. Часть 9 (с Изменениями 1, 2)
Документ «ОСТ 11 073 013 2008 Микросхемы интегральные. Методы испытаний. Электротермотренировка. Часть 9 с Изменениями 1, 2» регламентирует методы испытаний интегральных микросхем, направленные на оценку их устойчивости к термическим и электрическим воздействиям. Основное назначение документа заключается в обеспечении единых требований к испытаниям, что позволяет повысить надежность и долговечность микросхем, используемых в различных электронных устройствах. Данный стандарт применяется в области разработки, производства и испытаний интегральных микросхем, а также в научно-исследовательских учреждениях.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы электротермотренировки, параметры испытаний и требования к условиям их проведения. Стандарт описывает процедуры, которые должны быть выполнены для определения устойчивости микросхем к циклическим температурным и электрическим нагрузкам. В частности, документ включает в себя информацию о необходимых временных интервалах, температурах и электрических характеристиках, которые должны быть соблюдены в процессе испытаний.
Важные технические детали стандарта касаются условий испытаний, таких как диапазоны температур, величины электрических токов и напряжений, а также классификации микросхем по их устойчивости. Испытания проводятся в соответствии с установленными методиками, что позволяет получить достоверные данные о работоспособности и надежности микросхем в условиях эксплуатации. Также документ включает рекомендации по измеряемым величинам, что обеспечивает стандартизацию процесса испытаний.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей интегральных микросхем, аккредитованные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества электронных компонентов. Использование данного документа способствует унификации процессов испытаний и повышению уровня доверия к результатам, получаемым различными организациями. Это, в свою очередь, улучшает взаимодействие между участниками рынка и способствует повышению качества продукции.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество микросхем, что имеет критическое значение для конечных пользователей. Стандарт помогает минимизировать риски, связанные с эксплуатацией электронных устройств, и способствует соблюдению норм охраны труда. Изменения, внесенные в документ, касаются уточнения методов испытаний и дополнения требований к условиям испытаний, что позволяет более точно оценивать качество и надежность интегральных микросхем в современных условиях.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.