ГОСТ Р 71349-2024 Оптика и фотоника. Кристаллы оптические. Метод определения пузырности с применением микроскопа

ГОСТ Р 71349-2024

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Оптика и фотоника

КРИСТАЛЛЫ ОПТИЧЕСКИЕ

Метод определения пузырности с применением микроскопа

Optics and photonics. Optical crystals. Method for determination of bubbles using microscope

ОКС 37.020

Дата введения 2025-01-01

Предисловие

1 РАЗРАБОТАН Федеральным государственным унитарным предприятием "Научно-исследовательский институт физической оптики, оптики лазеров и информационных оптических систем Всероссийского научного центра "Государственный оптический институт им.С.И.Вавилова" (ФГУП "НИИФООЛИОС ВНЦ "ГОИ им.С.И.Вавилова")

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 296 "Оптика и фотоника"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 18 апреля 2024 г. № 505-ст

4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)

1 Область применения

Настоящий стандарт распространяется на оптические кристаллы (далее - кристаллы) в форме стержней, предназначенные для изготовления оптических деталей приборов, и устанавливает метод определения пузырности в видимом (от 0,38 до 0,78 мкм) диапазоне спектра с применением микроскопа.

Определение размеров и числа включений, если их приравнивают к пузырям в соответствии с технической документацией (ТД) на кристалл конкретного типа, проводят по настоящему стандарту.

Для определения пузырности кристаллов допускается применять другие методы, установленные в ГОСТ 3522.

Примечание - Точных границ излучения видимого диапазона спектра не существует, т.к. они зависят от значения энергетического потока, достигающего сетчатки, и восприимчивости наблюдателя. Нижнюю границу как правило, принимают между значениями 0,36 и 0,40 мкм, а верхнюю - между 0,76 и 0,83 мкм. В настоящем стандарте границы приняты равными значениям 0,38 и 0,78 мкм.

2 Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:

ГОСТ 2789 Шероховатость поверхности. Параметры и характеристики

ГОСТ 3522 Материалы оптические. Метод определения пузырности

ГОСТ 5556 Вата медицинская гигроскопическая. Технические условия

ГОСТ 11141 Детали оптические. Классы чистоты поверхностей. Методы контроля