BS EN 60444-11-2010 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency ?L and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction

Документ «BS EN 60444-11-2010» представляет собой стандартный метод измерения параметров кварцевых кристаллов, включая определение частоты резонанса нагрузки ?L и эффективной нагрузочной ёмкости CLeff с использованием автоматизированных техник анализаторов сетей и коррекции ошибок. Он нацелен на высокоточные измерения, которые необходимы в процессе проектирования и оценки кристаллических осцилляторов для различных электронных устройств.

Стандарт регламентирует методы измерений, ключевые параметры, которые должны быть учтены, и требования к оборудованию и процедурам. В частности, документ описывает условия, при которых должны проводиться испытания, включая температурные режимы и электрические характеристики тестируемых устройств. Также указываются критические контролируемые величины, такие как величина нагрузки и её влияние на резонанс.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей кварцевых кристаллов, исследовательские лаборатории и регулирующие органы, ответственные за сертификацию и контроль качества полупроводниковых компонентов. Поскольку стандарт направлен на обеспечение точности и повторяемости результатов измерений, его применение является важным для соблюдения требований промышленности электроники и автоматизации.

Практическое значение стандарта заключается в улучшении качества и надежности кристаллических осцилляторов, что, в свою очередь, влияет на безопасность и устойчивость электронных устройств. Использование данного метода способствует повышению уровня совместимости различных компонентов и систем, что является ключевым аспектом для современных технологий. Изменения в документации, включающие уточнения по методам тестирования и требуемому оборудованию, направлены на актуализацию подходов к измерению.