Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS EN 60749-27-2006 + A1-2012
Документ «BS EN 60749-27-2006 + A1-2012» представляет собой стандарт, регламентирующий процедуры испытаний для полупроводниковых устройств, предназначенных для применения в различных электрических компонентах. Основное назначение документа заключается в обеспечении надежности и безопасности этих устройств в условиях эксплуатации. Стандарт направлен как на производителей полупроводников, так и на организации, занимающиеся их тестированием и сертификацией.
Ключевыми аспектами, регулируемыми данным стандартом, являются методы испытаний, параметры, подлежащие измерению, а также требования к условиям испытаний. Он определяет последовательность действий для выполнения экспериментов, что позволяет получить сопоставимые результаты в разных лабораториях. Параметры, такие как температура, влажность, и механическая нагрузка, подлежат строгому контролю в процессе тестирования.
Важными техническими деталями документа являются условия испытаний, включая параметры окружающей среды и способы их контроля. Стандарт описывает классификацию полупроводниковых устройств, а также измеряемые величины, такие как электрические характеристики и стойкость к внешним воздействиям. Все эти детали способствуют унификации подхода к оценке качества продукции.
Целевой аудиторией стандарта являются производители полупроводников, испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, отвечающие за безопасность и качество электрических устройств. Стандарт предоставляет данные, необходимые для принятия обоснованных решений при проектировании и производстве полупроводников, что способствует улучшению качества продукции и повышению безопасности.
Практическое значение стандарта выражается в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда при использовании полупроводниковых устройств. Регулярное применение данного стандарта позволяет повысить совместимость электрических компонентов и снизить риски отказов в работе устройств. Изменения, внесённые в А1-2012, касаются уточнения методов испытаний и расширения перечня регламентируемых условий, что сделало документ более актуальным и полезным для индустрии.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
BS EN 60749-26-2014 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing Human body model (HBM)
BS EN 60749-23-2004 + A1-2011
BS EN 60749-21-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 21: Solderability
BS EN 60749-29-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test
BS EN 60749-3-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 3: External visual examination
BS EN 60749-32-2003 + A1-2010