Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 60749-3-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 3: External visual examination

Название документа
BS EN 60749-3-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 3: External visual examination
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 60749-3-2017» описывает методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств, уделяя особое внимание внешнему визуальному осмотру. Основное назначение данного стандарта — обеспечить последовательный и стандартизированный подход к оценке физического состояния полупроводниковых изделий, что критично для безопасности и надежности электроники.

Сфера применения стандарта охватывает производителей полупроводников, лаборатории, проводящие испытания, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов качества и безопасности. Ключевые аспекты регулирования включают в себя методы осмотра, параметры, которые необходимо учитывать, и требования к визуальной оценке внешнего состояния изделий. Стандарт описывает процедуры, которым должны следовать специалисты при идентификации недостатков и дефектов.

Важные технические детали включают установленные условия проведения испытаний, такие как освещенность, температура и влажность, которые должны соблюдаться для получения корректных результатов. Классификации обнаруженных дефектов, а также измеряемые величины играют ключевую роль в процессе приемки полупроводниковых компонентов. Стандарт определяет детальные требования к инструментам и методам, используемым при визуальной инспекции.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых элементов, службы контроля качества и лаборатории, проводящие испытания на соответствие установленным требованиям. Данный документ служит основой для обучения технического персонала и разработки стандартов внутри организаций, учитывающих надежность и безопасность своей продукции.

Практическое значение стандарта заключается в улучшении качества и надежности полупроводниковых устройств, что непосредственно влияет на безопасность конечных продуктов и устройств, в которых они используются. Стандарт также подчеркивает важность соблюдения условий охраны труда и совместимости компонентов в различных условиях эксплуатации. Изменения, внесенные в последней редакции стандарта, касаются уточнений в процедурах визуального осмотра и требований к документированию наблюдаемых дефектов, что упрощает их понимание и применение на практике.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.