Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS EN 60749-32-2003 + A1-2010
Документ «BS EN 60749-32-2003 + A1-2010» представляет собой стандарт, касающийся методов испытаний и оценки надежности полупроводниковых устройств, особенно в условиях различных механических и температурных нагрузок. Этот стандарт применяется как в разработке новых технологий, так и в процессе контроля качества существующих изделий, что делает его ключевым элементом в области электроники и материаловедения.
Основное внимание в данном стандарте уделено требованиям к экспериментальным методам, позволяющим оценить устойчивость полупроводников к ряду факторов, включая механические воздействия, влияние температуры и влажности. Также регламентируются параметры испытаний, такие как длительность воздействия и условия среды, что обеспечивает высокую степень воспроизводимости результатов.
Важные технические детали включают, например, требования к классификации различных полупроводниковых компонентов в зависимости от их термических и механических характеристик. Стандарт описывает методы измерения ключевых величин, таких как сопротивление, коэффициент термического расширения и прочность материалов, что крайне важно для производителей и лабораторий.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых приборов, научные и испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются вопросами сертификации и контроля качества. Стандарт обеспечивает единые правила для всех участников процесса, что способствует лучшему пониманию и совместимости технологий.
Практическое значение «BS EN 60749-32-2003 + A1-2010» заключается в повышении уровня безопасности и качества полупроводниковых устройств. соблюдение этого стандарта непосредственно влияет на срок службы изделий и их совместимость в различных системах, что, в свою очередь, улучшает охрану труда и снижает риски, связанные с ненадежными компонентами. Изменения и дополнения, внесённые в стандарт в версии A1-2010, направлены на уточнение методов испытаний и расширение области применения, что свидетельствует о его актуальности.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
BS EN 60749-3-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 3: External visual examination
BS EN 60749-29-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test
BS EN 60749-27-2006 + A1-2012
BS EN 60749-34-2010
BS EN 60749-35-2006 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
BS EN 60749-37-2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer