Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS EN 60749-4-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Документ «BS EN 60749-4-2017» устанавливает методы испытаний полупроводниковых устройств на воздействие конденсирующей влаги в условиях высокой температуры и влажности. Основная цель стандарта заключается в оценке устойчивости компонентов в условиях, способствующих деградации их характеристик. Стандарт применяется в области разработки и производства полупроводниковых устройств, особенно в условиях, когда устройства подвергаются воздействию влаги на протяжении длительного времени.
Ключевые аспекты, регламентируемые данным документом, включает методы испытаний, параметры, такие как температура и относительная влажность, а также требования к оборудованию и процедурам проведения тестов. В частности, стандарт описывает режимы и продолжительность воздействия влаги, а также требования к предварительной обработке образцов перед испытанием. Эти аспекты критически важны для обеспечения точности и достоверности результатов тестирования.
Документ также включает важные технические детали, такие как условия испытаний, обязательные для соблюдения во избежание негативных результатов. Классификация компонентов осуществляется на основе их стойкости к воздействию влаги, что позволяет производить объектные испытания и сравнения. Измеряемые величины, которые берутся во внимание, могут включать изменения в электрических характеристиках и физическое состояние образцов.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, испытательные лаборатории и контролирующие органы, которым необходимо удостовериться в соответствии продукции определённым требованиям безопасности и качества. Стандарт служит основой для разработки и внедрения методов контроля, что обеспечивает высокий уровень надежности и безопасности компонентов.
Практическое значение стандарта заключается в его способности улучшать качество и безопасность полупроводниковых устройств, что, в свою очередь, влияет на их долговечность и эксплуатационные характеристики. Регулярное применение и соблюдение данного стандарта способствуют общей надёжности системы и гарантируют, что устройства будут функционировать в строгих эксплуатационных условиях. В последней редакции стандарта были внесены изменения, касающиеся уточнения методик испытаний и новых критериев оценки, что делает его актуальным для современных технологий.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.