Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS EN 60749-42-2014 Semiconductor devices — mechanical and climatic test methods Part 42: Temperature humidity storage
Документ «BS EN 60749-42-2014» относится к стандартам, касающимся полупроводниковых устройств, и описывает механические и климатические методики испытаний. Основной целью данного документа является установление требований и методов, необходимых для оценки надежности полупроводниковых компонентов при их хранении в условиях повышенной влажности и температуры. Стандарт применяется в сфере разработки, производства и тестирования полупроводниковых устройств.
Документ регламентирует ключевые аспекты, включая методы испытаний, параметры, которые необходимо контролировать, и требования к условиям хранения. Важные технические детали включают параметры испытаний, такие как температура, относительная влажность и продолжительность хранения, а также классификации изделий, которые подлежат проверке. Стандарт определяет измеряемые величины, что позволяет проводить сравнительный анализ и оценку устройства.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводников, независимые лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся тестированием и сертификацией оборудования. Доступность детализированной информации о методах испытаний и применяемых параметрах способствует более надежному тестированию продуктов, а также упрощает процессы соблюдения нормативных требований в индустрии.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых устройств. Соблюдение указанных в документе нормативов способствует повышению надежности и долговечности изделий, что непосредственно влияет на их эксплуатационные характеристики. Стандарт также обращает внимание на охрану труда, обеспечивая дополнительную защиту работоспособности компонентов в условиях эксплуатации.
В версии 2014 года стандарта зафиксированы изменения, касающиеся уточнения методов испытаний и дополнения к условиям проверки, что подчеркивает важность актуализации данных в условиях быстроменяющейся технологической среды. Эти дополнения направлены на улучшение точности и воспроизводимости результатов испытаний, что в свою очередь способствует отказоустойчивости устройств на рынке.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
BS EN 60749-40-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
BS EN 60749-4-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
BS EN 60749-38-2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
BS EN 60749-43-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
BS EN 60749-44-2016 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
BS EN 60749-5-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test