Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 60749-43-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans

Название документа
BS EN 60749-43-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 60749-43-2017» посвящён методам механических и климатических испытаний полупроводниковых приборов, в частности, даёт рекомендации по планам оценки надежности интегральных схем (ИС). Он предназначен для производителей, лабораторий и органов контроля, которые занимаются разработкой и испытаниями полупроводниковых устройств. Основное назначение данного документа заключается в установлении стандартов и процедур, которые позволяют обеспечить высокое качество и надёжность ИС в различных условиях эксплуатации.

В рамках документа регламентируются ключевые методы испытаний, параметры и требования, которые должны учитываться при разработке плана оценки надежности. Он включает в себя испытания на механическую прочность, устойчивость к климатическим условиям, а также оценку характеристик и показателей качества ИС. Кроме того, документ налагает требования к условиям проведения испытаний, что позволяет гарантировать достоверность получаемых результатов.

Важные технические детали, охватываемые стандартом, включают классификации испытаний, измеряемые величины и условия, при которых проводятся тесты. Документ уточняет методы, позволяющие проверить устойчивость ИС к механическим и внешним воздействиям, что критично для обеспечения их долговечности. Значительное внимание уделяется параметрам, таковым как температура, влажность и физическое воздействие, которые оказывают влияние на функциональность устройств.

Целевая аудитория стандарта включает в себя производителей полупроводников, исследовательские лаборатории, а также инспекционные организации, занимающиеся контролем качества. Это документ служит ценным инструментом для специалистов, стремящихся к повышению надёжности и качества интегральных схем, предоставляя четкие и обоснованные рекомендации по осуществлению испытаний.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств. Следование рекомендациям документа способствует улучшению охраны труда, совместимости изделий и надежности. Все вышеперечисленные аспекты имеют первостепенное значение в контексте эволюции технологий и возрастающих требований к производимым устройствам.

Среди изменений или дополнений, рассмотренных в документе, можно отметить обновление параметров испытаний и уточнение методов оценки надежности. Эти изменения направлены на улучшение подходов, используемых для создания и тестирования интегральных схем, что в свою очередь позволяет повысить их производительность и долгосрочную стабильность в условиях эксплуатации.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.