Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS EN 60749-44-2016 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Документ «BS EN 60749-44-2016» предназначен для регулирования и стандартизации методов испытаний полупроводниковых устройств с целью определения их устойчивости к воздействию нейтронного излучения. Это важно для обеспечения надежности и безопасности устройств, используемых в условиях, где они могут подвергаться воздействию космических и других видов ионизирующего излучения. Стандарт применяется в области разработки и тестирования полупроводниковых компонентов, особенно в аэрокосмической и оборонной отраслях.
Ключевыми аспектами документа являются методика испытаний на наличие эффектов единственного события (SEE), параметры условий тестирования, а также требования к классификации и интерпретации результатов. Основное внимание уделяется методам, позволяющим определить реакцию полупроводниковых устройств на нейтронное излучение, что критически важно для разработки надежных и безопасных продуктов. Стандарт также включает в себя информационные указания по подготовке образцов и проведению контролируемых испытаний.
Технические детали включают условия испытаний, такие как энергия нейтронного излучения, продолжительность облучения и оценка пороговых значений для различных типов SEE. Документ регламентирует измеряемые величины, которые необходимо учитывать, в целях обеспечения воспроизводимости и сопоставимости результатов. Это позволит лабораториям и производителям проводить испытания с оптимальной точностью и надежностью.
Целевая аудитория этого стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и организации, занимающиеся сертификацией и контролем качества. Понимание и внедрение требований документа важно для специалистов, работающих в области разработки и тестирования, так как это напрямую сказывается на итоговой надежности и безопасности продуктов.
Практическое значение стандарта заключается в его способности повысить безопасность и качество полупроводниковых устройств, что, в свою очередь, влияет на охрану труда и совместимость с другими компонентами. Также документ может содержать изменения или дополнения по сравнению с предыдущими версиями, которые касаются новых подходов и технологий в области тестирования SEE.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
BS EN 60749-43-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
BS EN 60749-42-2014 Semiconductor devices — mechanical and climatic test methods Part 42: Temperature humidity storage
BS EN 60749-40-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
BS EN 60749-5-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
BS EN 60749-6-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 6: Storage at high temperature
BS EN 60749-7-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases