Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - CORR: January 31, 2013 Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 9: Измерение прочности соединения между пластинами MEMS - CORR: 31 января 2013
Документ «BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - CORR: January 31, 2013» предназначен для определения методов измерения прочности соединений пластин в микроэлектромеханических системах (MEMS). Этот стандарт применяется в сфере разработки и производства полупроводниковых устройств, обеспечивая единые требования к оценке прочности связей между различными мембранами.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным документом, являются методы оценки прочности соединений, включая параметры испытаний и требования к оборудованию. Стандарт описывает необходимые процедуры для проведения испытаний, а также критерии, которые должны быть соблюдены для достижения достоверных результатов. Уточняются также специфические методы измерения, которые помогут обеспечить точность и репродуцируемость данных.
Важные технические детали включают условия проведения испытаний, такие как температура, влажность и давление, которые могут повлиять на результаты измерений. Также рассматриваются классификации материалов и их влияние на прочность соединений. Описание измеряемых величин и необходимых параметров испытаний позволяет более четко понять, как обеспечить соответствие стандарту.
Целевая аудитория стандарта включает производителей MEMS, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые занимаются проверкой качества и безопасности полупроводниковых устройств. Компании, использующие этот стандарт, получают четкие указания по проведению тестов и повышают уверенность в качестве своей продукции.
Практическое значение стандарта заключается в увеличении безопасности и надежности полупроводниковых устройств, что, в свою очередь, влияет на качество и работоспособность конечных продуктов. Соблюдение данного стандарта помогает избежать дефектов в производстве и гарантирует соответствие международным требованиям в области охраны труда и защиты окружающей среды. В документе также отражены изменения, касающиеся уточнения методов измерения и обновления нормативных требований, что подчеркивает его актуальность в быстроразвивающейся области технологий.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»