Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - CORR: January 31, 2013

Название документа
BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - CORR: January 31, 2013
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62047-9-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - CORR: January 31, 2013» предназначен для определения методов измерения прочности соединений пластин в микроэлектромеханических системах (MEMS). Этот стандарт применяется в сфере разработки и производства полупроводниковых устройств, обеспечивая единые требования к оценке прочности связей между различными мембранами.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным документом, являются методы оценки прочности соединений, включая параметры испытаний и требования к оборудованию. Стандарт описывает необходимые процедуры для проведения испытаний, а также критерии, которые должны быть соблюдены для достижения достоверных результатов. Уточняются также специфические методы измерения, которые помогут обеспечить точность и репродуцируемость данных.

Важные технические детали включают условия проведения испытаний, такие как температура, влажность и давление, которые могут повлиять на результаты измерений. Также рассматриваются классификации материалов и их влияние на прочность соединений. Описание измеряемых величин и необходимых параметров испытаний позволяет более четко понять, как обеспечить соответствие стандарту.

Целевая аудитория стандарта включает производителей MEMS, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые занимаются проверкой качества и безопасности полупроводниковых устройств. Компании, использующие этот стандарт, получают четкие указания по проведению тестов и повышают уверенность в качестве своей продукции.

Практическое значение стандарта заключается в увеличении безопасности и надежности полупроводниковых устройств, что, в свою очередь, влияет на качество и работоспособность конечных продуктов. Соблюдение данного стандарта помогает избежать дефектов в производстве и гарантирует соответствие международным требованиям в области охраны труда и защиты окружающей среды. В документе также отражены изменения, касающиеся уточнения методов измерения и обновления нормативных требований, что подчеркивает его актуальность в быстроразвивающейся области технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.