Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62132-3-2007 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method Интегральные схемы - Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц - Часть 3: Метод инжекции объемного тока (BCI)

Название документа
BS EN 62132-3-2007 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method Интегральные схемы - Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц - Часть 3: Метод инжекции объемного тока (BCI)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62132-3-2007» посвящён методам измерения электромагнитной стойкости интегральных схем в диапазоне частот от 150 кГц до 1 ГГц. Основное назначение данного стандарта заключается в установлении методических требований для оценки помех, создаваемых высокочастотными (ВЧ) излучениями, которые могут влиять на работоспособность интегральных схем. Стандарт применяется в электромагнитной совместимости (EMC) и широко используется в процессе сертификации электроники.

Ключевыми аспектами документа являются методы испытаний, параметры измерений и требования, необходимые для обеспечения точности результатов. В частности, документ регламентирует метод инъекции тока в промышленной оболочке (BCI), который обеспечивает измерение помех без необходимости прямого подключения к интегральной схеме. Этот метод помогает выявить уязвимости современных микросхем к электромагнитным воздействиям, что имеет критическое значение для повышения надёжности и стабильности устройств.

Среди важных технических деталей стоит отметить условия испытаний, отличающиеся в зависимости от типа интегральных схем и их конструктивных особенностей. Кроме того, документ предоставляет классификации измеряемых величин, таких как уровень инъекции тока и частоты тестового сигнала, что позволяет пользователям стандартизировать процесс испытаний. Эти параметры должны быть тщательно соблюдены для получения достоверных результатов и их последующего анализа.

Целевая аудитория стандарта включает производителей интегральных схем, лаборатории, занимающиеся тестированием, а также контролирующие органы, которые оценивают соответствие выпускаемой продукции требованиям электромагнитной совместимости. Понимание и применение данных требований способствуют повышению качества продукции и её безопасности для конечного пользователя.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда в электронике. Соответствие требованиям BS EN 62132-3-2007 помогает избежать потенциальных проблем, связанных с электромагнитными помехами, и гарантирует, что устройства будут функционировать корректно в различных условиях. Кроме того, изменения и дополнения к стандарту обновляются периодически, направленные на улучшение методов диагностики и повышения надёжности новых технологий в данной области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN 62132-2-2011 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method Интегральные схемы - Измерение электромагнитной совместимости Часть 2: Измерение радиационной иммунитета - Метод TEM ячейки и широкополосного метода TEM ячейки PDF BS EN 62132-1-2016 Integrated circuits — Measurement of electromagnetic immunity Part 1: General conditions and definitions Интегральные схемы — Измерение электромагнитной совместимости Часть 1: Общие условия и определения PDF BS EN 62129-2-2011 PDF BS EN 62132-4-2006 Integrated circuits Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz Part 4: Direct RF power injection method Интегральные схемы Измерение электромагнитной совместимости 150 кГц до 1 ГГц Часть 4: Метод прямого введения RF мощности PDF BS EN 62132-5-2006 Integrated circuits Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Workbench Faraday cage method Интегральные схемы Измерение электромагнитной совместимости, 150 кГц до 1 ГГц Часть 5: Метод Faraday cage на рабочем столе PDF BS EN 62132-8-2012 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method Интегральные схемы - Измерение электромагнитной совместимости - Часть 8: Измерение радиационной иммунитета - Метод IC stripline