Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN IEC 60749-13-2018 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 13: Salt Atmosphere

Название документа
BS EN IEC 60749-13-2018 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 13: Salt Atmosphere
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN IEC 60749-13-2018» относится к категории стандартов, определяющих методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств. Основное назначение данного документа заключается в установлении нормативов по проведению испытаний на устойчивость полупроводников к воздействиям соляной атмосферы. Он применяется в сферах разработки и производства полупроводников, а также в тестовых лабораториях, занимающихся оценкой качества и надежности таких устройств.

Ключевыми аспектами, регулируемыми в документе, являются методы испытаний, параметры среды, в которой проводятся тесты, и требования к качеству образцов. Стандарт предписывает условия тестирования, включая концентрацию соли, продолжительность воздействия и тип полупроводниковых материалов, подлежащих испытанию. Эти параметры необходимы для обеспечения воспроизводимости результатов и их сопоставимости между различными лабораториями.

Важные технические детали документа включают классификацию полупроводников по уровням их устойчивости к коррозионному воздействию. Кроме того, регламентируются измеряемые величины, такие как изменение электрических характеристик и механическая целостность образцов после воздействия тестируемой среды. Это позволяет разработчикам и производителям оценивать долговечность своих изделий в условиях сложной эксплуатации.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, ответственные за соблюдение нормативных требований. Данный стандарт также будет полезен компаниям, ориентированным на разработку новых материалов и технологий в области полупроводников. Применение стандарта способствует повышению уровня безопасности и качества продукции на рынке.

Практическое значение стандарта проявляется в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых устройств. Он оказывает непосредственное влияние на охрану труда, особенно в условиях эксплуатации, где возможны коррозионные факторы. В документе были внесены изменения, касающиеся методов испытаний и уточнения параметров, что позволяет сделать процесс оценки более ясным и точным для всех участников.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.