Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS IEC 60747-1-2006 + A1-2010
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «BS IEC 60747-1-2006 + A1-2010» представляет собой международный стандарт, регулирующий требования и методы испытаний для полупроводниковых устройств. Он охватывает широкий спектр применений в области электроники, включая измерительное и управляющее оборудование. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении совместимости и надёжности полупроводников в разнообразных условиях эксплуатации.
Ключевыми аспектами документа являются регламентируемые методы испытаний, параметры измерений и требования к устройствам. Стандарт описывает процедуры, необходимые для верификации функциональности и безопасности полупроводниковых компонентов. Среди методов, представленных в стандарте, выделяются электрические испытания и механические тесты, что позволяет охватить значимый спектр эксплуатационных характеристик.
Важные технические детали, изложенные в стандарте, касаются условий испытаний, таких как температура, влажность и другие факторы окружающей среды. Классификация полупроводников, а также измеряемые величины, например, выходные сигналы и параметры напряжения, детализируют подходы к испытаниям и проверке качества. Эти данные будут полезны для специалистов, работающих в лабораториях и производственных организациях.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых элементов, исследовательские лаборатории и контролирующие организации, которые занимаются проверкой и сертификацией продукции. Профессиональное применение данного документа способствует повышению уровня доверия к полупроводникам и развитию эффективных систем их контроля и оценки.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых решений. Использование документа позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией электроники и обеспечивает высокие стандарты охраны труда. Внесённые изменения и дополнения в редакцию 2010 года касаются уточнения параметров испытаний и улучшения методических рекомендаций, что позволяет оптимизировать процессы контроля за качеством.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
BS IEC 60737-2010 Nuclear power plants - Instrumentation important to safety - Temperature sensors (in-core and primary coolant circuit) - Characteristics and test methods
Атомные электростанции - Инструменты, важные для безопасности - Температурные датчики (внутриреакторные и в первичном контуре охлаждения) - Характеристики и методы испытаний
BS IEC 60736-1982
BS IEC 60728-12-2017 Cable networks for television signals, sound signals and interactive services Part 12: Electromagnetic compatibility of systems
Кабельные сети для телевизионных сигналов, звуковых сигналов и интерактивных услуг Часть 12: Электромагнитная совместимость систем
BS IEC 60747-10-1991 Semiconductor devices - Generic specification for discrete devices and integrated circuits - AMD 9348: February 1997; CORR: July 31, 2011
Полупроводниковые устройства - Общая спецификация для отдельных устройств и интегральных схем - AMD 9348: Февраль 1997; CORR: Июль 31, 2011
BS IEC 60747-14-1-2010 Semiconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - Generic specification for sensors
Полупроводниковые устройства Часть 14-1: Полупроводниковые датчики - Общая спецификация для датчиков
IEC 60747-14-10-2019 Semiconductor devices - Part 14-10: Semiconductor sensors - Performance evaluation methods for wearable glucose sensors
Полупроводниковые устройства - Часть 14-10: Полупроводниковые датчики - Методы оценки характеристик носимых датчиков глюкозы