IEC 60747-14-11-2021 Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature

Название документа

Вид документа

Принявший орган

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.

Возможно вас заинтересуют

IEC 60747-14-10-2019 Semiconductor devices - Part 14-10: Semiconductor sensors - Performance evaluation methods for wearable glucose sensors

BS IEC 60747-14-1-2010 Semiconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - Generic specification for sensors

BS IEC 60747-10-1991 Semiconductor devices - Generic specification for discrete devices and integrated circuits - AMD 9348: February 1997; CORR: July 31, 2011

IEC 60747-14-2-2000 Semiconductor Devices - Part 14-2: Semiconductor Sensors - Hall Elements

BS IEC 60747-14-3-2009 Semiconductor devices - Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors

BS IEC 60747-14-4-2011 Semiconductor devices - Discrete devices Part 14-4: Semiconductor accelerometers