IEC 60747-14-11-2021 Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature Полупроводниковые устройства - Часть 14-11: Полупроводниковые датчики - Метод испытаний поверхностных акустических волновых интегрированных датчиков для измерения ультрафиолетового излучения, освещенности и температуры

Документ «IEC 60747-14-11-2021» устанавливает тестовые методы для интегрированных датчиков на основе поверхностных акустических волн, предназначенных для измерения ультрафиолетового излучения, освещенности и температуры. Он актуален для производителей сенсоров, исследовательских лабораторий, а также для организаций, занимающихся контролем и сертификацией таких устройств.

Ключевые аспекты стандарта включают описание методов испытаний, параметры, требования и процедуры, необходимые для оценки производительности и надежности сенсоров. В документе подробно изложены условия испытаний, включая диапазоны температур и уровни ультрафиолетового излучения, что позволяет обеспечить повторяемость и согласованность результатов.

Среди важных технических деталей указаны классы точности измерений и спецификации для различных типов сенсоров. Стандарт фиксирует методы калибровки и требования к используемому оборудованию, что способствует обеспечению высоких стандартов качества в производстве и проверке сенсоров.

Целевая аудитория данного стандарта включает в себя производителей, исследовательские учреждения и стандартизирующие организации. Он необходим для обеспечения единообразия в методах испытаний и способствует повышению доверия к результатам испытаний, что особенно важно в условиях конкурентного рынка.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество работы смерных приборов. Нормативные требования способствуют улучшению охраны труда и безопасности, а также повышают совместимость разных устройств, что важно для их интеграции в сложные системы. Изменения и дополнения к документу направлены на учёт новых достижений в технологиях и улучшение методов измерений.