Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS ISO 14701-2018 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Measurement of silicon oxide thickness Поверхностный химический анализ - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Измерение толщины оксида кремния

Название документа
BS ISO 14701-2018 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Measurement of silicon oxide thickness Поверхностный химический анализ - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Измерение толщины оксида кремния
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS ISO 14701-2018» устанавливает стандарты для анализа поверхности с использованием рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) с целью измерения толщины оксида кремния. Основное назначение данного документа заключается в стандартизации методов и процедур, используемых в данной области, что позволяет обеспечить точность и воспроизводимость измерений. Он применяется в различных отраслях, включая микроэлектронику, материалы и нанотехнологии, где необходим контроль параметров поверхности материалов.

Ключевыми аспектами стандарта являются определение методов измерения, необходимых параметров и требований к условиям испытаний. Документ детализирует процедуры калибровки и валидации, что гарантирует высокую надежность результатов. Также в нем указаны допустимые пределы измерения и необходимые условия для проведения анализов, включая параметры как давление, температура и выбор источника рентгеновского излучения.

Особое внимание уделяется техническим деталям, которые являются критически важными для достижения достоверных результатов. Среди них описаны характеристики используемого оборудования, а также рекомендуемая подготовка образцов и способы их обработки. Эти аспекты важны для получения точных данных о толщине оксида кремния, что напрямую влияет на качество конечной продукции.

Целевая аудитория стандарта включает производителей, работающих в сфере микроэлектроники, лаборатории, осуществляющие тестирование и контроль качества, а также регулирующие органы, которым необходимо следовать установленным нормам. Стандарт служит руководством для всех заинтересованных сторон, обеспечивая понимание лучших практик в области анализа поверхности.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество продукции и охрану труда. Он способствует улучшению совместимости материалов, что в свою очередь повышает надежность компонентов в конечных изделиях. Благодаря чётким указаниям по методам анализа, стандарт помогает минимизировать риски, связанные с производственными процессами.

В документе также приведены изменения или дополнения, касающиеся обновлений в методах измерения и требований к оборудованию. Эти изменения направлены на улучшение точности исследований и расширение области применения России и международной практике. Наличие актуализированных данных обеспечивает соответствие стандартам мирового уровня, что актуально в условиях глобальной конкуренции.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ISO 14697-2007 Reaction-to-fire tests — Guidance on the choice of substrates for building and transport products Тесты на реакцию на огонь — Рекомендации по выбору субстратов для строительных и транспортных продуктов PDF BS ISO 14695-2003 BS 848-6-2003 PDF BS ISO 14694-2003 + A1-2011 PDF ISO 14703-2008 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Sample preparation for the determination of particle size distribution of ceramic powders Тонкие керамики (расширенные керамики, расширенные технические керамики) — Подготовка образцов для определения распределения размеров частиц керамических порошков PDF BS ISO 14706-2014 Surface Chemical Analysis - Determination of Surface Elemental Contamination on Silicon Wafers by Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Spectroscopy Поверхностный химический анализ - Определение поверхностного элементарного загрязнения на кремниевых пластинах методом полного отражения рентгеновской флуоресценции (TXRF) спектроскопии PDF ISO 14707-2021 Surface chemical analysis — Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES) — Introduction to use Поверхностный химический анализ — Спектроскопия с оптическим излучением при разряде в вакууме (GD-OES) — Введение в использование