Картотека документов
Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS ISO 21222-2020 Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
Название документа
BS ISO 21222-2020 Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто
Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Возможно вас заинтересуют
BS ISO 21219-6-2019 Intelligent transport systems — Traffic and travel information (TTI) via transport protocol experts group, generation 2 (TPEG2) Part 6: Message management container (TPEG2-MMC)
BS ISO 21219-5-2019 Intelligent transport systems - Traffic and travel information (TTI) via transport protocol experts group, generation 2 (TPEG2) Part 5: Service framework (TPEG2-SFW)
BS ISO 21219-4-2019 Intelligent transport systems - Traffic and travel information (TTI) via transport protocol experts group, generation 2 (TPEG2) Part 4: UML to XML conversion rules
BS ISO 21223-2019 Tools for pressing - Vocabulary
BS ISO 21226-2019 Soil quality - Guideline for the screening of soil polluted with toxic elements using soil magnetometry
BS ISO 21232-2018 Textiles — Determination of moisturizing effect of textile materials by measurement of microclimate between textiles and simulated human skin using sweating guarded hotplate