Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS ISO 16531-2013 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
Скачать документ нельзя Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть» (“AS IS”), получены нами из открытых источников. Актуализация документов не производится, информацию о статусе, актуальности и полных атрибутах документов можно найти в тиражных системах «Техэксперт» либо в других источниках.
Возможно вас заинтересуют
BS ISO 16505-2015 Road vehicles — Ergonomic and performance aspects of Camera Monitor Systems — Requirements and test procedures
BS ISO 16494-2014 Heat recovery ventilators and energy recovery ventilators — Method of test for performance
BS ISO 16457-2014 Space systems - Space environment (natural and artificial) - The Earth's ionosphere model: international reference ionosphere (IRI) model and extensions to the plasmasphere - CORR: June 30, 2014
BS ISO 16573-2015 Steel — Measurement method for the evaluation of hydrogen embrittlement resistance of high strength steels
BS ISO 16577-2016 Molecular biomarker analysis - Terms and definitions
BS ISO 16578-2013 Molecular biomarker analysis — General definitions and requirements for microarray detection of specific nucleic acid sequences