Картотека документов
Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS ISO 17109-2015 Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondaryion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer
Название документа
BS ISO 17109-2015 Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondaryion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто
Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Возможно вас заинтересуют
BS ISO 17090-4-2014 Health informatics — Public key infrastructure Part 4: Digital Signatures for healthcare documents
BS ISO 17090-1-2013 Health informatics - Public key infrastructure Part 1: Overview of digital certificate services
BS ISO 17089-1-2010 Measurement of fluid flow in closed conduits - Ultrasonic meters for gas Part 1: Meters for custody transfer and allocation measurement
BS ISO 17138-2014 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Mechanical properties of ceramic composites at room temperature — Determination of flexural strength
BS ISO 17140-2014
BS ISO 17142-2014 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Mechanical properties of ceramic composites at high temperature in air at atmospheric pressure — Determination of fatigue properties at constant amplitude