Картотека документов
Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60512-25-6-2004 Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
Название документа
IEC 60512-25-6-2004 Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто
Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60512-25-5-2008
IEC 60512-25-5-2004 Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-5: Test 25e Return loss
IEC 60512-25-4-2001 Connectors for Electronic Equipment - Test and Measurements - Part 25-4: Test 25d - Propagation Delay
IEC 60512-25-7-2004 Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-7: Test 25g Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR)
IEC 60512-25-9-2008 Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 25-9: Signal integrity tests – Test 25i: Alien crosstalk
IEC 60512-26-100-2011 Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 – Tests 26a to 26g