Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-2-1-1989 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 2: Rectifier diodes - Section One: Blank detail specification for rectifier diodes (including avalanche rectifier diodes), ambient and case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Дискретные устройства - Часть 2: Диоды выпрямления - Раздел Один: Образец технического задания на диоды выпрямления (включая диоды выпрямления с пробойным напряжением), рассчитанные на окружающую температуру и температуру корпуса, до 100 А

Название документа
IEC 60747-2-1-1989 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 2: Rectifier diodes - Section One: Blank detail specification for rectifier diodes (including avalanche rectifier diodes), ambient and case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Дискретные устройства - Часть 2: Диоды выпрямления - Раздел Один: Образец технического задания на диоды выпрямления (включая диоды выпрямления с пробойным напряжением), рассчитанные на окружающую температуру и температуру корпуса, до 100 А
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-2-1-1989» представляет собой технический стандарт, регламентирующий характеристики и параметры прямых диодов, включая диоды с лавинным пробоем, с номинальным током до 100 А. Основное назначение данного документа заключается в установлении детализированных спецификаций для производства и испытаний таких компонентов, обеспечивая тем самым надёжность и эффективное применение в различных электронных системах.

В качестве ключевых аспектов, регулируемых стандартом, можно выделить методы испытаний, параметры измерений и требования к качеству, что позволяет производителям следовать установленным нормам. Документ определяет протоколы проверки характеристик, включая параметры электросопротивления, рабочие температуры и условия нарастания напряжения, что необходимо для обеспечения безопасной и стабильной работы устройств, в которых используются эти диоды.

Важные технические детали стандарта касаются условий испытаний, помимо общих параметров тестирования, также учитываются возможные классификации диодов, что позволяет различать их по функциональным характеристикам и назначениям. Условия окружающей среды и параметры корпуса также рассматриваются, так как они влияют на эксплуатационные свойства и долговечность диодов в различных условиях.

Целевая аудитория документа охватывает производителей полупроводниковых приборов, исследовательские лаборатории, а также органы, занимающиеся контролем качества. Стандарт помогает обеспечивать соответствие продукции современным требованиям, что является критически важным для поддержания высоких стандартов безопасности и качества на мировом рынке.

Практическое значение данного стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость электронных компонентов. Он способствует снижению рисков, связанных с неисправностями и несоответствием, что, в свою очередь, влияет на общую надежность и эффективность применения товаров в электронике. Изменения и дополнения к стандарту могут включать уточнения в методах испытаний и новых параметрах, что необходимо для соответствия современным технологиям и требованиям рынка.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-19-1-2019 Semiconductor devices - Part 19-1: Smart sensors - Control scheme of smart sensors Полупроводниковые устройства - Часть 19-1: Умные датчики - Схема управления умными датчиками PDF IEC 60747-18-3-2019 Semiconductor devices - Part 18-3: Semiconductor bio sensors - Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system Полупроводниковые устройства - Часть 18-3: Полупроводниковые биосенсоры - Характеристики потока жидкости для модулей без линз CMOS фотонных массивов датчиков с гидравлической системой PDF IEC 60747-18-2-2020 Semiconductor devices – Part 18-2: Semiconductor bio sensors – Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules Полупроводниковые устройства – Часть 18-2: Полупроводниковые биосенсоры – Процесс оценки модулей без линз CMOS фотонных массивов датчиков PDF IEC 60747-2-2-1993 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 2: Rectifier diodes - Section 2: Blank detail specification for rectifier diodes (including avalanche rectifier diodes), ambient and case-rated, for currents greater than 100 A Полупроводниковые устройства - Дискретные устройства - Часть 2: Диоды выпрямления - Раздел 2: Образец технического задания на диоды выпрямления (включая диоды выпрямления с пробойным напряжением), рассчитанные на окружающую температуру и температуру корпуса, для токов больше 100 А PDF IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes Полупроводниковые устройства - Часть 2: Дискретные устройства - Диоды выпрямления PDF IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования