Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60748-5-1997 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 5: Semicustom Integrated Circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 5: Семикастомные интегральные схемы

Название документа
IEC 60748-5-1997 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 5: Semicustom Integrated Circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 5: Семикастомные интегральные схемы
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60748-5-1997» установлен как стандарт для полупроводниковых устройств, в частности, для полупристосованных интегральных схем. Он охватывает ключевые аспекты проектирования, производства и тестирования этих компонентов, которые являются основой большинства современных электронных устройств. Стандарт служит основой для производителей, обеспечивая единые требования к качеству и совместимости полупроводников.

Основное назначение данного документа заключается в регламентировании методов и параметров, применяемых для создания полупристосованных интегральных схем. В нем описываются процедуры тестирования, позволяющие оценить характеристики схем, включая их надежность и функциональность. Это обеспечивает соответствие продукции международным стандартам и требованиям рынка.

К числу ключевых регламентируемых аспектов относятся требования к измеряемым величинам, условиям испытаний и классификациям полупроводниковых устройств. Стандарт включает в себя методы, используемые для верификации производительности схем, что позволяет гарантировать высокое качество конечного продукта. Также акцентируется внимание на важности совместимости с другими устройствами в рамках системы.

Целевой аудиторией документа являются производители полупроводников, испытательные лаборатории и контролирующие органы. Эти группы используют стандарт для обеспечения качества и надежности разрабатываемых интегральных схем, а также для соблюдения актуальных регуляторных требований. Тем самым, документ служит важным инструментом в сфере разработки и внедрения новых технологий.

Практическое значение стандарта «IEC 60748-5-1997» заключается в его влиянии на безопасность и качество выпускаемой продукции. Он помогает установить высокий уровень защиты труда, а также управление рисками, связанными с эксплуатацией полупроводниковых устройств. Совместимость и надежность, обеспечиваемые стандартом, направлены на улучшение общепроизводственных процессов и создание более безопасных и эффективных электронных систем.

При наличии изменений или дополнений к стандарту следует отметить, что новые редакции часто обновляют требования для учета современных технологий и методов тестирования. Это позволяет стандарту оставаться актуальным и конкурентоспособным в быстроразвивающейся области полупроводников, обеспечивая при этом необходимый уровень доверия со стороны пользователей и регуляторов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60748-4-3-2006 Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 4-3: Interface integrated circuits – Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC) Полупроводниковые устройства – Интегральные схемы – Часть 4-3: Интерфейсные интегральные схемы – Динамические критерии для аналого-цифровых преобразователей (ADC) PDF IEC 60748-4-2-1993 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 4: Interface Integrated Circuits - Section 2: Blank Detail Specification for Linear Analogue-to-Digital Converters (ADC) Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 4: Интерфейсные интегральные схемы - Раздел 2: Пустой технический спецификационный документ для линейных аналого-цифровых преобразователей (ADC) PDF IEC 60748-4-1997 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 4: Interface Integrated Circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 4: Интерфейсные интегральные схемы PDF IEC 60749-1-2002 cor1-2003 IEC 60749-1-2002 cor1-2003 PDF IEC 60749-1-2002 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 1: General Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 1: Общие PDF IEC 60749-10-2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 10: Механический удар - устройство и под сборку