Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 62435-5-2017 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 5: Die and wafer devices
Документ «IEC 62435-5-2017» предназначен для установления требований и процедур, касающихся долгосрочного хранения электронных полупроводниковых устройств, в частности, чипов и пластин. Он применяется в различных областях, связанных с производством, испытанием и обслуживанием полупроводниковых компонентов, обеспечивая их надлежащее состояние на протяжении всего периода хранения.
Ключевые аспекты, регламентируемые данным документом, включают методы хранения, параметры контроля окружающей среды и требования к упаковке. Этот стандарт также определяет процедуры оценки состояния полупроводниковых устройств перед их использованием, что особенно важно для обеспечения высоких эксплуатационных характеристик их компонентов.
Среди важных технических деталей, упоминаемых в стандарте, следует отметить условия испытаний, такие как уровни температуры и влажности, а также периодичность проверки состояния хранимых устройств. Классификация материалов и измеряемые величины, такие как уровень электростатической чувствительности, также имеют важное значение для соблюдения нормативов и обеспечения безопасности в процессе хранения.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, что позволяет всем участникам процесса обеспечивать надлежащее качество и надежность хранимых изделий. Это способствует улучшению общего уровня безопасности и производственных стандартов в отрасли.
Практическое значение данного стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество, охрану труда и совместимость хранимых устройств. Следуя рекомендациям документа, организации могут минимизировать риски, связанные с деградацией полупроводников, что, в свою очередь, положительно скажется на конечной продукции и ее конкурентоспособности.
В документе также учтены изменения, касающиеся обновленных процедур тестирования и условий хранения, что позволяет адаптировать его к требованиям современных технологий хранения, повышая его актуальность и эффективность для профессиональной аудитории.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 62435-4-2018 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage
IEC 62435-3-2020 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 3: Data
IEC 62435-2-2017 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 2: Deterioration mechanisms
IEC 62435-6-2018 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 6: Packaged or finished devices
IEC 62435-7-2020 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 7: Micro-electromechanical devices
IEC 62435-8-2020 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 8: Passive electronic devices