Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 63229-2021 Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Скачать документ нельзя Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть» (“AS IS”), получены нами из открытых источников. Актуализация документов не производится, информацию о статусе, актуальности и полных атрибутах документов можно найти в тиражных системах «Техэксперт» либо в других источниках.
Возможно вас заинтересуют
IEC 63218-2021 Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Secondary lithium, nickel cadmium and nickel-metal hydride cells and batteries for portable applications - Guidance on environmental aspects
IEC 63211-3-5-2020 Durability test methods for electronic displays - Part 3-5: Mechanical tests - Surface durability
IEC 63210-2021 Shunt power capacitors of the self-healing type for AC systems having a rated voltage above 1 000 V
IEC 63237-1-2022 Household and similar electrical appliances - Product information properties - Part 1: Fundamentals
IEC 63240-1-2020 Active assisted living (AAL) reference architecture and architecture model - Part 1: Reference architecture
IEC 63240-2-2020 Active assisted living (AAL) reference architecture and architecture model - Part 2: Architecture model