Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 63229-2021 Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate

Название документа
IEC 63229-2021 Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ

Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.