Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC TR 63133-2017 Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.