Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
AENOR UNE-EN 60749-39-2006
Документ «AENOR UNE-EN 60749-39-2006» представляет собой стандарт, разработанный для оценки устойчивости полупроводниковых устройств к воздействию различных условий окружающей среды. Основное назначение данного документа заключается в установлении методов испытаний, которые позволяют определить, насколько устройства способны сохранять свои функциональные характеристики при воздействии механических и термических факторов. Стандарт применяется в области производства полупроводниковых компонентов и предназначен для использования как производителями, так и лабораториями, занимающимися тестированием и контролем качества.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми стандартом, являются методы испытаний на механические воздействия, такие как вибрация и удар, а также термические испытания, включая термоциклирование. Стандарт описывает параметры, которые должны быть соблюдены во время испытаний, включая условия, при которых проводятся тесты, и требования к оборудованию. Также документ определяет процедуры, которые должны быть выполнены для достижения достоверных результатов и их интерпретации.
Важные технические детали, указанные в стандарте, включают классификации испытаний и измеряемые величины, такие как амплитуда вибрации, продолжительность воздействия и температурные диапазоны. Условия испытаний должны соответствовать установленным требованиям, чтобы гарантировать повторяемость и сопоставимость результатов. Это особенно важно для производителей, стремящихся обеспечить надежность и долговечность своей продукции.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за сертификацию и соблюдение норм качества. Стандарт служит основой для разработки и внедрения систем контроля качества, что, в свою очередь, способствует повышению уровня безопасности и надежности конечной продукции.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на качество и безопасность полупроводниковых устройств, что непосредственно сказывается на их совместимости с другими компонентами и системами. Соблюдение требований данного стандарта позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией устройств в различных условиях, что особенно актуально для высокотехнологичных и критически важных приложений. В случае наличия изменений или дополнений к стандарту, они могут касаться уточнения методов испытаний или обновления требований к оборудованию, что способствует улучшению качества и надежности тестирования.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.