Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
AENOR UNE-EN 60749-6-2017
Документ «AENOR UNE-EN 60749-6-2017» представляет собой стандарт, который устанавливает методы испытаний для определения устойчивости полупроводниковых устройств к механическим воздействиям, таким как механические удары и вибрации. Основное назначение этого стандарта заключается в обеспечении надежности и долговечности полупроводниковых компонентов в различных условиях эксплуатации. Он применяется в области электроники и электротехники, охватывая широкий спектр полупроводниковых изделий, включая интегральные схемы и транзисторы.
Ключевыми регламентируемыми аспектами данного документа являются методы испытаний, параметры и требования, касающиеся механической прочности полупроводниковых устройств. Стандарт описывает процедуры, которые должны быть соблюдены при проведении испытаний, включая условия, при которых должны проводиться тесты, такие как температура, влажность и другие внешние факторы. Эти параметры обеспечивают воспроизводимость результатов и их сопоставимость между различными лабораториями и производителями.
Технические детали, описанные в стандарте, включают спецификации для измеряемых величин, таких как амплитуда вибрации, частота и продолжительность воздействия. Также документ содержит классификацию типов испытаний в зависимости от уровня механического воздействия, что позволяет производителям оценивать устойчивость своих изделий к различным условиям эксплуатации. Условия испытаний строго регламентированы, что позволяет обеспечить высокую степень точности и надежности получаемых данных.
Целевой аудиторией данного стандарта являются производители полупроводниковых компонентов, испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и обеспечением качества. Стандарт предоставляет единые критерии для оценки и проверки механической прочности, что способствует улучшению взаимодействия между всеми участниками процесса разработки и производства полупроводников.
Практическое значение стандарта заключается в повышении уровня безопасности и качества полупроводниковых устройств, что, в свою очередь, способствует улучшению охраны труда и совместимости изделий в рамках различных систем. Стандарт также способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией полупроводниковых компонентов в условиях механических воздействий, что важно для обеспечения надежности конечной продукции.
С момента его публикации стандарт «AENOR UNE-EN 60749-6-2017» может подвергаться изменениям и дополнениям, которые направлены на улучшение методов испытаний и адаптацию к новым технологиям. Важно следить за актуальными версиями документа для обеспечения соответствия современным требованиям и стандартам в области полупроводниковой электроники.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.