Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
AENOR UNE-EN 62047-22-2014
Документ «AENOR UNE-EN 62047-22-2014» представляет собой стандарт, разработанный для определения методов и требований к измерению характеристик микроэлектронных устройств, использующих технологии, основанные на углеродных наноматериалах. Он охватывает широкий спектр приложений, включая датчики, активные элементы и системы, которые применяются в области микроэлектроники и наноэлектроники.
Основное назначение данного стандарта заключается в установлении единого подхода к оценке производительности и надежности микроэлектронных устройств, что достигается через стандартизацию методов испытаний и измерений. Стандарт регламентирует ключевые аспекты, такие как параметры электрических и механических характеристик, а также условия, при которых должны проводиться испытания, чтобы обеспечить сопоставимость результатов.
Важные технические детали включают описание условий испытаний, таких как температура, влажность и другие внешние факторы, которые могут повлиять на результаты. Также документ определяет классификации для различных типов устройств и измеряемых величин, что позволяет производителям и исследовательским лабораториям проводить точные и воспроизводимые испытания.
Целевая аудитория стандарта включает производителей микроэлектронных компонентов, научные и исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются сертификацией и оценкой качества продукции. Этот стандарт служит важным инструментом для обеспечения соответствия изделий современным требованиям и ожиданиям рынка.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество микроэлектронных устройств. Стандартизация испытаний способствует повышению уровня доверия со стороны потребителей и обеспечивает совместимость различных компонентов, что особенно важно в условиях быстро развивающихся технологий. Применение данного стандарта помогает снизить риски, связанные с эксплуатацией устройств, и улучшить охрану труда в производственных процессах.
В версии 2014 года стандарт был обновлён с учётом последних достижений в области технологий и материалов, что позволило улучшить его актуальность и применимость. Изменения касаются уточнения методов испытаний и расширения перечня регламентируемых параметров, что делает данный документ более полным и полезным для профессионалов в области микроэлектроники.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
