Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50451-6-2014 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 6: Determination of 36 elements in a high-purity ammonium fluoride solution (NH4F) and in etching mixtures of high-purity ammonium f Тестирование материалов для технологии полупроводников - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 6: Определение 36 элементов в высокочистом растворе аммония фторида (NH4F) и в травящих смесях высокочистого аммония фторида

Название документа
DIN 50451-6-2014 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 6: Determination of 36 elements in a high-purity ammonium fluoride solution (NH4F) and in etching mixtures of high-purity ammonium f Тестирование материалов для технологии полупроводников - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 6: Определение 36 элементов в высокочистом растворе аммония фторида (NH4F) и в травящих смесях высокочистого аммония фторида
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50451-6-2014» посвящён методам тестирования материалов для полупроводниковой технологии и направлен на определение следов элементов в жидкостях, содержащих высокочистый фторид аммония (NH4F) и в смесях, используемых для травления. Основное назначение стандарта заключается в установлении точных и повторяемых методов анализа, которые могут быть использованы в промышленных и научных лабораториях.

Ключевыми аспектами документа являются регламентируемые методы и процедуры, описывающие условия испытаний, а также параметры, необходимые для определения следов 36 элементарных веществ. Стандарт задаёт точные требования к выбору оборудования, анализу образцов и методам измерений, что способствует получению достоверных и сопоставимых результатов.

Одной из важных технических деталей являются условия испытаний, которые включают контроль температуры и времени, а также особенности подготовительных процессов перед анализом. Классификации и измеряемые величины также уточняются, чтобы соответствовать современным требованиям качества и достоверности результатов.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, научно-исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые заинтересованы в точности анализа и соблюдении норм безопасности. Это чётко прописано в стандарте, что делает его незаменимым инструментом в данной области.

Практическое значение стандарта «DIN 50451-6-2014» заключается в его влиянии на обеспечение безопасности, качества продукции и охраны труда. Соответствие данному документу помогает предотвратить возможные негативные последствия, связанные с нестабильностью или ненадежностью материалов, используемых в высоких технологиях. В случае наличия изменений или дополнений, они касаются уточнения методов анализа и требований к оборудованию, что ещё более повышает актуальность и значимость стандарта для пользователей.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»