DIN 58002-2001 Integrated optics - Near-field-measurement for single-mode optical chip components

Документ «DIN 58002-2001 Integrated optics - Near-field-measurement for single-mode optical chip components» определяет методику и требования к измерениям вблизи для однорежимных оптических чипов. Он применяется в сфере интегральной оптики, где критически важны точные параметры для разработки и тестирования оптических компонентов.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми в стандарте, являются методы выполнения измерений, параметры, подлежащие оценке, и требования к оборудованию. Стандарт описывает необходимые процедуры для надежного измерения и обеспечивает согласованность результатов в различных условиях испытаний.

Важно отметить, что в документе присутствуют конкретные технические детали, включая условия проведения испытаний и классификацию измеряемых величин. Эти данные необходимы для гарантирования воспроизводимости и точности результатов, что критично для исследовательских и производственных лабораторий.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей оптических компонентов, лаборатории, занимающиеся тестированием, и контролирующие органы, которые занимаются сертификацией качества. Они используют данный стандарт для разработки, оценки и улучшения продукции в области интегральной оптики.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость оптических компонентов. Применение данных методов способствует повышению эффективности производственных процессов и обеспечению соответствия международным требованиям. Стандарт также учитывает последние изменения в области технологий и заложен на улучшение качества производства.

Документ может содержать обновления, касающиеся новых методов измерений, которые были внедрены для повышения точности и надежности тестирования оптических чипов. Эти изменения направлены на улучшение функциональности и расширение возможности применения стандартов в современных условиях.