Картотека документов
Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ASTM E2530-2006 Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si (111) Monatomic Steps
Название документа
ASTM E2530-2006 Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si (111) Monatomic Steps
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
ASTM E253-2022a
ASTM E2529-2006 (R 2014) Standard Guide for Testing the Resolution of a Raman Spectrometer
ASTM E2527-2015 (R 2019) Standard Test Method for Electrical Performance of Concentrator Terrestrial Photovoltaic Modules and Systems Under Natural Sunlight
ASTM E2531-2006 (R 2020) Standard Guide for Development of Conceptual Site Models and Remediation Strategies for Light Nonaqueous-Phase Liquids Released to the Subsurface
ASTM E2532-2009 (R 2017) Standard Test Methods for Evaluating Performance of Highway Traffic Monitoring Devices
ASTM E2533-2021 Standard Guide for Nondestructive Examination of Polymer Matrix Composites Used in Aerospace Applications