Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM E2695-2009 Standard Guide for Interpretation of Mass Spectral Data Acquired with Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy Стандартное руководство по интерпретации масс-спектральных данных, полученных с помощью масс-спектрометрии ионов вторичного иона с временем полета

Название документа
ASTM E2695-2009 Standard Guide for Interpretation of Mass Spectral Data Acquired with Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy Стандартное руководство по интерпретации масс-спектральных данных, полученных с помощью масс-спектрометрии ионов вторичного иона с временем полета
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM E2695-2009 представляет собой стандартное руководство для интерпретации данных масс-спектрометрии, полученных с использованием метода вторичной ионной масс-спектрометрии с временем полета (TOF-SIMS). Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении единых подходов к анализу и интерпретации спектров, полученных в результате применения TOF-SIMS, что позволяет повысить достоверность получаемых результатов. Сфера применения включает научные исследования, анализ материалов, а также контроль качества в различных отраслях, таких как микроэлектроника, материаловедение и фармацевтика.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным документом, являются методы получения и анализа масс-спектров, параметры, влияющие на качество данных, а также требования к подготовке образцов. Стандарт описывает процедуры калибровки и валидации полученных данных, а также методы обработки и интерпретации масс-спектров для получения количественной и качественной информации о составе материалов. Важным элементом является также описание условий испытаний, таких как давление, температура и параметры ионного пучка.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются оценкой и контролем качества продукции. Стандарт предоставляет необходимые рекомендации для специалистов, работающих с TOF-SIMS, и способствует улучшению понимания процессов, происходящих в образцах под воздействием ионного пучка. Это, в свою очередь, позволяет оптимизировать методы анализа и повысить точность получаемых данных.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, что особенно важно в высокотехнологичных отраслях. Соблюдение рекомендаций данного документа способствует улучшению условий труда, снижению рисков, связанных с неправильной интерпретацией данных, а также повышению совместимости различных методов анализа. Кроме того, стандарт может быть использован для разработки новых методик и подходов в области масс-спектрометрии.

В последующих редакциях документа, если таковые имели место, могут быть внесены изменения, касающиеся уточнения методов анализа, улучшения параметров калибровки и расширения рекомендаций по интерпретации данных. Это позволяет поддерживать актуальность стандарта в условиях быстрого развития технологий и методов анализа, что является важным для обеспечения высоких стандартов качества и безопасности в научных и промышленных приложениях.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»