Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F120-1988 STANDARD PRACTICES FOR DETERMINATION OF THE CONCENTRATION OF IMPURITIES IN SINGLE CRYSTAL SEMICONDUCTOR MATERIALS BY INFRARED ABSORPTION SPECTROSCOPY

Название документа
ASTM F120-1988 STANDARD PRACTICES FOR DETERMINATION OF THE CONCENTRATION OF IMPURITIES IN SINGLE CRYSTAL SEMICONDUCTOR MATERIALS BY INFRARED ABSORPTION SPECTROSCOPY
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ASTM F120-1988» представляет собой стандартные практики, предназначенные для определения концентрации примесей в одно кристаллических полупроводниковых материалах с использованием инфракрасной спектроскопии. Он применяется в области полупроводниковой технологии, где точное измерение уровней примесей критически важно для обеспечения качества и производительности электронных устройств. Стандарт охватывает методы, параметры и процедуры, которые обеспечивают достоверность и воспроизводимость результатов анализа.

Ключевыми аспектами данного документа являются описания методик, позволяющих проводить спектроскопические измерения в определённых условиях, а также требования к оборудованию и квалификации персонала. Стандарт включает рекомендации по подготовке образцов, настройке спектроскопов и интерпретации полученных данных. Это обеспечивает высокую степень точности в определении концентраций различных примесей, таких как кислород, углерод и другие элементы, влияющие на свойства полупроводников.

Важные технические детали включают спецификации по условиям испытаний, таким как температура, влажность и другие факторы окружающей среды, которые могут повлиять на результаты анализа. Также документ описывает классификацию измеряемых величин и стандарты для калибровки оборудования. Эти аспекты являются критически важными для достижения согласованности и надежности в процессе измерений.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, лаборатории, занимающиеся их анализом, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение качества и безопасности продукции. Применение данного стандарта способствует повышению уровня доверия к результатам испытаний и обеспечивает соответствие международным требованиям в области качества.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств, а также на охрану труда. Соблюдение рекомендаций стандарта позволяет минимизировать риски, связанные с использованием некачественных материалов, что в свою очередь способствует улучшению эксплуатационных характеристик конечной продукции. В случае изменений или дополнений к стандарту, они обычно касаются уточнений в методах измерений или новых рекомендаций по оборудованию, что позволяет поддерживать актуальность и эффективность практик.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.