Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1239-2002 Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterizations of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction

Название документа
ASTM F1239-2002 Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterizations of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.