Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1239-2002 Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterizations of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction

Название документа
ASTM F1239-2002 Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterizations of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ASTM F1239-2002» представляет собой стандартные методы испытаний для характеристики осаждения кислорода в кремниевых пластинах посредством измерения снижения интерстициального кислорода. Основное назначение документа заключается в предоставлении четких и воспроизводимых методик, которые могут быть использованы для оценки уровня интерстициального кислорода в кремнии, что имеет важное значение для полупроводниковой промышленности.

Стандарт регламентирует несколько ключевых аспектов, включая процедуры подготовки образцов, условия испытаний и методы измерения. В частности, документ описывает способы определения содержания интерстициального кислорода, а также параметры, которые необходимо учитывать при проведении испытаний, такие как температура и продолжительность процесса. Эти аспекты критически важны для обеспечения точности и надежности получаемых данных.

Важные технические детали, включенные в стандарт, касаются условий, при которых проводятся испытания, а также классификации кремниевых пластин в зависимости от уровня кислорода. Измеряемыми величинами являются концентрация интерстициального кислорода, а также изменения в структуре кристаллической решетки, которые могут происходить в результате осаждения кислорода. Эти измерения помогают в оценке качества кремниевых пластин и их пригодности для дальнейшего использования в производственных процессах.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковой продукции, лаборатории, занимающиеся испытаниями, а также контролирующие органы, обеспечивающие соблюдение стандартов качества. Стандарт предоставляет необходимую основу для оценки и контроля качества кремниевых пластин, что в свою очередь влияет на общую надежность и производительность конечной продукции.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых компонентов. Соблюдение методов, описанных в документе, способствует снижению рисков, связанных с дефектами в материалах, что может привести к улучшению характеристик конечных изделий. В версии 2002 года стандарт может содержать обновления, касающиеся уточнений в методах измерений и рекомендаций по проведению испытаний, что делает его актуальным для современных условий производства.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.