Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1261M-1996 (R 2003) Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] Метод испытаний для определения средней электрической ширины прямой тонкой металлической линии [Метрическая система]

Название документа
ASTM F1261M-1996 (R 2003) Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] Метод испытаний для определения средней электрической ширины прямой тонкой металлической линии [Метрическая система]
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1261M представляет собой стандартный метод испытаний, предназначенный для определения средней электрической ширины прямой тонкоплёночной металлической линии. Этот стандарт применяется в области электроники и микроэлектроники, где точность измерений критически важна для обеспечения функциональности и надежности компонентов. Он служит основой для оценки характеристик проводников, используемых в различных устройствах, включая интегральные схемы и сенсоры.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы измерения и параметры, необходимые для получения достоверных результатов. Стандарт описывает процедуры, которые необходимо соблюдать при проведении испытаний, включая условия окружающей среды, используемое оборудование и способы обработки полученных данных. Это позволяет обеспечить воспроизводимость и сопоставимость результатов между различными лабораториями и производственными процессами.

Важные технические детали стандарта включают определение условий испытаний, таких как температура, влажность и тип используемого измерительного оборудования. Также рассматриваются классификации металлических линий по их электрической ширине и методы обработки результатов, что позволяет получить точные и надежные данные о характеристиках проводников. Измеряемыми величинами являются средняя электрическая ширина, а также возможные отклонения, которые могут возникнуть в процессе изготовления.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители электроники, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, осуществляющие надзор за качеством продукции. Стандарт позволяет им обеспечить соответствие продукции установленным требованиям и спецификациям, что способствует повышению качества и надежности конечных изделий. Также он служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих процессов производства.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость электронных компонентов. Соблюдение требований ASTM F1261M способствует снижению рисков, связанных с неисправностями и отказами в работе электронных устройств. Стандарт также может быть использован для оценки соответствия продукции международным нормам и стандартам, что важно для выхода на зарубежные рынки.

В последних версиях стандарта были внесены изменения, касающиеся уточнения методов измерений и обработки данных. Эти дополнения направлены на улучшение точности и надежности испытаний, что является важным шагом для повышения качества продукции в быстроразвивающейся области микроэлектроники. Таким образом, ASTM F1261M остаётся актуальным и необходимым инструментом для специалистов в данной области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F1260M-1996 (R 2003) Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations (Metric) Метод испытаний для оценки среднего времени до отказа и сигма интегральных схем из металлизации (Метрическая система) PDF ASTM F1259M-1996 (R 2003) Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] Гайд по проектированию плоских прямолинейных тестовых структур для обнаружения отказов из-за увеличения сопротивления или обрыва металлизации (Метрическая система) PDF ASTM F1258-1995 (R 2014) Standard Practice for Emergency Medical Dispatch Практика экстренной медицинской диспетчеризации PDF ASTM F1262M-2014 Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) Гайд по испытаниям на пороговое значение воздействия переходного излучения цифровых интегральных схем (Метрическая система) PDF ASTM F1263-2011 Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts Гайд по анализу данных о превышении предела в радиационных испытаниях электронных компонентов PDF ASTM F1264-2016e1