Картотека документов
                    
                    
                            Электронный фонд правовой 
                            и нормативно-технической документации
                        
ASTM F1535-2000 Standard Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance
Название документа
                                    
                                        ASTM F1535-2000 Standard Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance                                    
                                Вид документа
                                    Принявший орган
                                    Статус
                                    
                                        Скрыто
                                    
                                Дата принятия
                                    
                                        Скрыто
                                    
                                Дата начала действия
                                    
                                        Скрыто
                                    
                                Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.