Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1535-2000 Standard Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance

Название документа
ASTM F1535-2000 Standard Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1535-2000 представляет собой стандартный метод испытаний, предназначенный для определения времени рекомбинации носителей заряда в кремниевых пластинах с использованием бесконтактного измерения затухания фотопроводимости методом микроволнового отражения. Этот стандарт применяется в области микроэлектроники и солнечной энергетики, где важна оценка качества кремниевых материалов и их свойств для дальнейшего использования в производственных процессах.

Основные аспекты, регламентируемые данным стандартом, включают описание методологии измерения времени рекомбинации, параметры испытаний, а также требования к оборудованию и условиям проведения измерений. В частности, стандарт определяет процедуры подготовки образцов, настройки измерительного оборудования и интерпретации полученных данных, что обеспечивает надежность и воспроизводимость результатов.

Технические детали, указанные в документе, охватывают условия испытаний, такие как температура, влажность и другие факторы, которые могут повлиять на результаты. Измеряемыми величинами являются время рекомбинации носителей заряда, которое является критически важным показателем для оценки качества кремниевых пластин, а также их потенциальной эффективности в конечных приложениях.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, научные и исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и испытанием электрических компонентов. Данный стандарт служит основой для обеспечения качества и надежности продукции, что, в свою очередь, способствует улучшению производственных процессов и повышению конкурентоспособности на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда при работе с полупроводниковыми материалами. Правильное применение данного метода позволяет минимизировать риски, связанные с дефектами в материалах, что важно как для производителей, так и для конечных пользователей. В документе также могут быть указаны изменения или дополнения, касающиеся новых технологий и методов, что позволяет поддерживать актуальность стандарта в быстро развивающейся области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.