Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1620-1996 Standard Practice for Calibrating a Scanning Surface Inspection System Using Monodisperse Polystyrene Latex Spheres Deposited on Polished or Epitaxial Wafer Surfaces

Название документа
ASTM F1620-1996 Standard Practice for Calibrating a Scanning Surface Inspection System Using Monodisperse Polystyrene Latex Spheres Deposited on Polished or Epitaxial Wafer Surfaces
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1620-1996 представляет собой стандартную практику, разработанную для калибровки систем сканирующей поверхности с использованием монодисперсных латексных сфер из полистирола, которые наносятся на полированные или эпитаксиальные поверхности ваферов. Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении точности и надежности измерений, связанных с анализом поверхности в различных областях, включая микроэлектронику и нанотехнологии.

Стандарт регламентирует методы и процедуры, которые необходимо применять при калибровке систем сканирующей поверхности. Он описывает параметры, такие как размер и распределение частиц, а также условия, при которых должны проводиться испытания. Важным аспектом является необходимость соблюдения строгих требований к чистоте и состоянию исследуемых поверхностей, что обеспечивает достоверность получаемых результатов.

Ключевыми техническими деталями стандарта являются описания условий испытаний, включая температуру, влажность и тип используемого оборудования. Также документ содержит информацию о классификации сфер по размеру и их распределению, что позволяет пользователям точно настраивать оборудование для получения необходимых данных. Измеряемые величины включают, но не ограничиваются, профилем поверхности и степенью ее шероховатости.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей, лаборатории, занимающиеся исследованием материалов, а также контролирующие органы, которые обеспечивают соблюдение норм и стандартов в области качества. Стандарт служит важным инструментом для специалистов, работающих в области разработки и контроля качества полупроводниковых устройств и других высокотехнологичных изделий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции. Соблюдение рекомендаций ASTM F1620-1996 способствует повышению надежности и долговечности конечных изделий, а также улучшает условия труда, снижая риски, связанные с производственными процессами. Стандарт также обеспечивает совместимость между различными системами и методами, что является важным аспектом в условиях глобализации и стандартизации производства.

В последующих редакциях стандарта были внесены изменения, касающиеся уточнения методов калибровки и расширения диапазона применяемых частиц. Эти дополнения направлены на улучшение точности и универсальности применения стандарта в различных научных и промышленных сферах, что делает его актуальным инструментом для специалистов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.