Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1620-1996 Standard Practice for Calibrating a Scanning Surface Inspection System Using Monodisperse Polystyrene Latex Spheres Deposited on Polished or Epitaxial Wafer Surfaces Стандартная практика для калибровки сканирующей системы поверхностного контроля с использованием монодисперсных полистирольных латексных сфер, нанесенных на полированные или эпитаксиальные поверхности

Название документа
ASTM F1620-1996 Standard Practice for Calibrating a Scanning Surface Inspection System Using Monodisperse Polystyrene Latex Spheres Deposited on Polished or Epitaxial Wafer Surfaces Стандартная практика для калибровки сканирующей системы поверхностного контроля с использованием монодисперсных полистирольных латексных сфер, нанесенных на полированные или эпитаксиальные поверхности
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1620-1996 представляет собой стандартную практику, разработанную для калибровки систем сканирующей поверхности с использованием монодисперсных латексных сфер из полистирола, которые наносятся на полированные или эпитаксиальные поверхности ваферов. Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении точности и надежности измерений, связанных с анализом поверхности в различных областях, включая микроэлектронику и нанотехнологии.

Стандарт регламентирует методы и процедуры, которые необходимо применять при калибровке систем сканирующей поверхности. Он описывает параметры, такие как размер и распределение частиц, а также условия, при которых должны проводиться испытания. Важным аспектом является необходимость соблюдения строгих требований к чистоте и состоянию исследуемых поверхностей, что обеспечивает достоверность получаемых результатов.

Ключевыми техническими деталями стандарта являются описания условий испытаний, включая температуру, влажность и тип используемого оборудования. Также документ содержит информацию о классификации сфер по размеру и их распределению, что позволяет пользователям точно настраивать оборудование для получения необходимых данных. Измеряемые величины включают, но не ограничиваются, профилем поверхности и степенью ее шероховатости.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей, лаборатории, занимающиеся исследованием материалов, а также контролирующие органы, которые обеспечивают соблюдение норм и стандартов в области качества. Стандарт служит важным инструментом для специалистов, работающих в области разработки и контроля качества полупроводниковых устройств и других высокотехнологичных изделий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции. Соблюдение рекомендаций ASTM F1620-1996 способствует повышению надежности и долговечности конечных изделий, а также улучшает условия труда, снижая риски, связанные с производственными процессами. Стандарт также обеспечивает совместимость между различными системами и методами, что является важным аспектом в условиях глобализации и стандартизации производства.

В последующих редакциях стандарта были внесены изменения, касающиеся уточнения методов калибровки и расширения диапазона применяемых частиц. Эти дополнения направлены на улучшение точности и универсальности применения стандарта в различных научных и промышленных сферах, что делает его актуальным инструментом для специалистов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F1619-1995 e1 PDF ASTM F1618-2002 Standard Practice for Determination of Uniformity of Thin Films on Silicon Wafers Стандартная практика для определения однородности тонких пленок на кремниевых пластинах PDF ASTM F1617-1998 (R 2002) Standard Test Method for Measuring Surface Sodium, Aluminum, Potassium, and Iron on Silicon and EPI Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry Стандартный метод испытаний для измерения поверхностного натрия, алюминия, калия и железа на кремнии и субстратах EPI с использованием масс-спектрометрии вторичных ионов PDF ASTM F1621-1996 Standard Practice for Determining the Positional Accuracy Capabilities of a Scanning Surface Inspection System Стандартная практика для определения позиционной точности сканирующей системы поверхностного контроля PDF ASTM F1622-1995 Standard Test Method for Measuring the Torsional Properties of Metallic Bone Screws Стандартный метод испытаний для измерения торсионных свойств металлических костных винтов PDF ASTM F1623-1996 (R 2013) Standard Terminology Relating to Thermal Imaging Products Стандарт терминологии, относящейся к тепловизионным продуктам