Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1630-2000 Standard Test Method for Low Temperature FT-IR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities

Название документа
ASTM F1630-2000 Standard Test Method for Low Temperature FT-IR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1630-2000 представляет собой стандартный метод испытаний, предназначенный для низкотемпературного FT-IR анализа однокристаллического кремния на наличие примесей III-V группы. Он применяется в области полупроводниковой технологии и материаловедения, где необходимо точно определять уровень примесей для обеспечения качества и производительности полупроводниковых устройств.

Основные аспекты, регламентируемые данным документом, включают методы подготовки образцов, параметры проведения анализа и требования к оборудованию. Стандарт описывает процедуру низкотемпературного инфракрасного спектроскопического анализа, позволяя выявлять и количественно оценивать содержание примесей, таких как фосфор, мышьяк и другие элементы III-V группы в кремнии.

Технические детали, указанные в стандарте, охватывают условия испытаний, такие как температура, при которой проводится анализ, и спецификации используемого оборудования. Также в документе описываются измеряемые величины, включая интенсивность поглощения и длины волн, что позволяет точно интерпретировать результаты и проводить сравнительный анализ с эталонными образцами.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, занимающиеся оценкой качества и безопасности полупроводниковых компонентов. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих процессов, обеспечивая надёжность и высокие характеристики конечной продукции.

Практическое значение ASTM F1630-2000 заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств. Точное определение содержания примесей позволяет улучшить характеристики материалов, что в свою очередь способствует повышению надёжности и долговечности конечных изделий. Стандарт также способствует соблюдению норм охраны труда и экологии, обеспечивая соответствие продукции современным требованиям безопасности.

С момента его публикации документ может подвергаться изменениям и дополнениям, направленным на улучшение методов анализа и актуализацию требований. Важно учитывать, что регулярное обновление стандартов обеспечивает соответствие современным научным достижениям и технологиям, что является критически важным для развития отрасли.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.