Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F1724-2001 Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy Стандартный метод испытаний для измерения поверхностного загрязнения металла поликристаллического кремния методом выщелачивания кислотой и атомно-абсорбционной спектроскопии

Название документа
ASTM F1724-2001 Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy Стандартный метод испытаний для измерения поверхностного загрязнения металла поликристаллического кремния методом выщелачивания кислотой и атомно-абсорбционной спектроскопии
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F1724-2001 представляет собой стандартный метод испытаний, предназначенный для измерения поверхностного металлического загрязнения поликристаллического кремния с использованием кислотной экстракции и атомно-абсорбционной спектроскопии. Этот стандарт применяется в области полупроводниковой промышленности, где критически важно контролировать уровень загрязняющих веществ для обеспечения высокой чистоты материалов. Он служит основой для оценки качества поликристаллического кремния, который используется в производстве солнечных элементов и других электронных компонентов.

В документе регламентируются методы экстракции и анализа, а также параметры, которые необходимо учитывать при проведении испытаний. Основным этапом является экстракция загрязняющих металлов с поверхности образцов кремния, после чего проводится анализ с помощью атомно-абсорбционной спектроскопии. Стандарт описывает необходимые условия для проведения тестов, включая выбор реагентов, температуру и время экстракции, что позволяет обеспечить воспроизводимость результатов.

Ключевыми измеряемыми величинами в рамках данного стандарта являются концентрации различных металлов, таких как железо, медь, никель и другие, которые могут негативно влиять на характеристики поликристаллического кремния. Стандарт также включает классификации уровней загрязнения, что позволяет производителям и лабораториям оценивать соответствие материалов установленным требованиям. Это важно для обеспечения надежности и долговечности конечных продуктов, использующих поликристаллический кремний.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и мониторингом качества. Понимание и применение данного стандарта помогает обеспечить высокие стандарты качества и безопасности в производстве, что в свою очередь влияет на эффективность и устойчивость технологий, основанных на поликристаллическом кремнии.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на качество и безопасность продукции, а также на охрану труда в процессе производства. Стандартизация методов измерения загрязнений способствует улучшению совместимости материалов и снижению рисков, связанных с использованием некачественного сырья. Изменения и дополнения к документу, если таковые имеются, могут касаться уточнения методов анализа и обновления перечня регулируемых металлов, что позволяет поддерживать актуальность стандарта в условиях быстро развивающейся технологии.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F1723-2002 Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy Стандартная практика оценки поликристаллического кремния стержней методом плавления в зоне и спектроскопии PDF ASTM F1722-2015 Standard Test Method for Determining Mass and Moment of Inertia of Alpine Skis Стандартный метод испытаний для определения массы и момента инерции альпинских лыж PDF ASTM F1721-2004 (R 2009) Standard Practices for Determining Stability of Direct Thermal Imaging Products Стандартные практики для определения стабильности продукции прямого термического имиджирования PDF ASTM F1725-2002 Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots Стандартное руководство по анализу кристаллической полноты кремниевых заготовок PDF ASTM F1726-2002 Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers Стандартное руководство по анализу кристаллической полноты кремниевых пластин PDF ASTM F1727-2002 Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers Стандартная практика обнаружения дефектов, вызванных окислением, в полированных кремниевых пластинах