Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F40-1983 STANDARD METHOD FOR PREPARING MONOCRYSTALLINE TEST INGOTS OF SILICON BY THE VERTICAL-PULLING (CZOCHRALSKI) TECHNIQUE СТАНДАРТНЫЙ МЕТОД ПОДГОТОВКИ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТЕСТОВЫХ ГОЛОВКИ СИЛИКАНА МЕТОДОМ ГОРИЗОНТАЛЬНОГО ВЫТЯГИВАНИЯ (ТЕХНИКА ЦЗОЧРАЛЬСКОГО)

Название документа
ASTM F40-1983 STANDARD METHOD FOR PREPARING MONOCRYSTALLINE TEST INGOTS OF SILICON BY THE VERTICAL-PULLING (CZOCHRALSKI) TECHNIQUE СТАНДАРТНЫЙ МЕТОД ПОДГОТОВКИ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТЕСТОВЫХ ГОЛОВКИ СИЛИКАНА МЕТОДОМ ГОРИЗОНТАЛЬНОГО ВЫТЯГИВАНИЯ (ТЕХНИКА ЦЗОЧРАЛЬСКОГО)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ASTM F40-1983 STANDARD METHOD FOR PREPARING MONOCRYSTALLINE TEST INGOTS OF SILICON BY THE VERTICAL-TECHNIQUE» представляет собой стандартный метод, предназначенный для подготовки монокристаллических тестовых слитков кремния с использованием вертикальной техники. Этот стандарт применяется в области материаловедения и полупроводниковой технологии, где требуется получение высококачественных монокристаллов для дальнейшего использования в различных промышленных процессах.

Основными аспектами, регламентируемыми данным документом, являются методы выращивания монокристаллов, параметры процесса, а также требования к оборудованию и условиям, в которых осуществляется подготовка слитков. Стандарт описывает необходимые этапы, включая контроль температуры, скорости кристаллизации и чистоты исходных материалов, что критически важно для достижения требуемых характеристик конечного продукта.

Важные технические детали, указанные в стандарте, включают условия испытаний, такие как температура плавления, скорость охлаждения и методы контроля качества получаемых слитков. Также рассматриваются классификации получаемых кристаллов по их структурным и электрическим свойствам, что позволяет производителям и исследователям оценивать соответствие полученных материалов заданным требованиям.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, научные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и обеспечением качества продукции. Стандарт служит важным инструментом для специалистов, работающих в области разработки и производства высококачественных кремниевых кристаллов, обеспечивая единые требования и методы, что способствует улучшению совместимости материалов и технологий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и эффективность производственных процессов. Следование рекомендациям данного документа позволяет минимизировать риски, связанные с производством и использованием кремниевых слитков, а также способствует улучшению условий труда и охраны окружающей среды. В случае наличия изменений или дополнений к стандарту, они, как правило, касаются уточнения методов контроля и новых технологий, что отражает современные достижения в области кристаллографии и материаловедения.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»