Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F657-1992 (R 1999) Standard Test Method for Measuring Warp and Total Thickness Variation on Silicon Wafers by Noncontact Scanning Стандартный метод испытаний для измерения провисания и общего изменения толщины на кремниевых пластинах с помощью бесконтактного сканирования

Название документа
ASTM F657-1992 (R 1999) Standard Test Method for Measuring Warp and Total Thickness Variation on Silicon Wafers by Noncontact Scanning Стандартный метод испытаний для измерения провисания и общего изменения толщины на кремниевых пластинах с помощью бесконтактного сканирования
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F657 представляет собой стандартный метод испытаний, предназначенный для измерения деформации и общей толщины кремниевых пластин с помощью бесконтактного сканирования. Этот стандарт применяется в области полупроводниковой технологии, где точные характеристики кремниевых пластин играют критическую роль в производстве электронных компонентов. Основная цель документа заключается в обеспечении единой методологии для получения надежных и воспроизводимых данных о физическом состоянии кремниевых пластин.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми стандартом, являются методы измерения, параметры и требования к оборудованию, используемому для сканирования. В частности, документ описывает процедуры, которые необходимо соблюдать для достижения точности в измерениях, включая условия окружающей среды и калибровку оборудования. Важным элементом является также описание необходимых характеристик используемого сканирующего устройства, чтобы гарантировать соответствие стандарту.

Технические детали, указанные в ASTM F657, включают условия испытаний, такие как температура и влажность, которые могут влиять на результаты. Стандарт также определяет классификации измеряемых величин, включая допустимые пределы отклонений в деформации и толщине. Это позволяет производителям и лабораториям оценивать качество кремниевых пластин и их пригодность для дальнейшего использования в производственных процессах.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества. Стандарт обеспечивает общие требования и методологии, которые помогают всем участникам процесса гарантировать высокое качество и надежность продукции. Это, в свою очередь, способствует улучшению контроля качества на всех этапах производства и минимизации рисков, связанных с использованием некачественных материалов.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость кремниевых пластин в различных приложениях. Следование рекомендациям ASTM F657 позволяет производителям повышать уровень доверия к своей продукции, а также улучшать процессы контроля качества. При наличии изменений или дополнений к стандарту, они обычно касаются уточнения методов измерений или обновления требований к оборудованию, что обеспечивает актуальность документа в условиях быстроразвивающейся технологии.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»