Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F671-1999 Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials

Название документа
ASTM F671-1999 Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ

Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.