Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F773M-2016 Standard Practice for Measuring Dose Rate Response of Linear Integrated Circuits (Metric) Стандартная практика для измерения скорости дозы отклика линейных интегрированных схем (Метрическая)

Название документа
ASTM F773M-2016 Standard Practice for Measuring Dose Rate Response of Linear Integrated Circuits (Metric) Стандартная практика для измерения скорости дозы отклика линейных интегрированных схем (Метрическая)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ASTM F773M-2016 Standard Practice for Measuring Dose Rate Response of Linear Integrated Circuits (Metric)» представляет собой стандартную практику, разработанную для определения реакций линейных интегральных схем на дозу ионизирующего излучения. Он применяется в области электроники и радиационной безопасности для оценки устойчивости компонентов при воздействии радиации, что особенно актуально для изделий, используемых в космической и медицинской технике.

Основные регламентируемые аспекты данного документа включают методы измерения, параметры испытаний и требования к оборудованию. Стандарт описывает процедуры, которые должны быть соблюдены при проведении испытаний, включая выбор условий, при которых проводятся измерения, а также параметры, которые необходимо учитывать для получения достоверных результатов.

Технические детали, указанные в документе, касаются условий испытаний, таких как уровень ионизирующего излучения, температура окружающей среды и другие факторы, влияющие на результаты. Стандарт также определяет классификации интегральных схем в зависимости от их чувствительности к радиации и описывает измеряемые величины, что позволяет получить четкое представление о характеристиках тестируемых компонентов.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей линейных интегральных схем, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются оценкой безопасности и качества электронных компонентов. Использование стандарта способствует унификации подходов к тестированию и гарантирует, что результаты будут сопоставимыми и надежными.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда. Соблюдение рекомендаций ASTM F773M-2016 позволяет минимизировать риски, связанные с радиационным воздействием на электронные устройства, что, в свою очередь, повышает их надежность и долговечность. В документе могут быть указаны изменения или дополнения, касающиеся методов измерения или условий испытаний, что позволяет поддерживать актуальность и соответствие современным требованиям отрасли.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F772-1982 (R 1990) Standard Test Method for Noise Quality of Film-Type Resistors Стандартный метод испытаний для качества шума пленочных резисторов PDF ASTM F771-1999 (R 2005) Standard Specification for Polyethylene (PE) Thermoplastic High-Pressure Irrigation Pipeline Systems Стандартное техническое описание для полиэтилена (ПЭ) термопластичных высокого давления систем поливных трубопроводов PDF ASTM F770-2022 Standard Practice for Ownership, Operation, Maintenance, and Inspection of Amusement Rides and Devices Стандартная практика для собственности, эксплуатации, обслуживания и инспекции аттракционов и устройств PDF ASTM F774-1982 STANDARD GUIDE FOR ANALYSIS OF LATCHUP SUSCEPTIBILITY IN BIPOLAR INTEGRATED CIRCUITS РУКОВОДСТВО ПО АНАЛИЗУ ВОСПРИИМЧИВОСТИ К ПРОНИКНОВЕНИЮ В БИПОЛЯРНЫЕ ИНТЕГРИРОВАННЫЕ СХЕМЫ PDF ASTM F775-1988 STANDARD TEST METHOD FOR WAFER AND SLICE FLATNESS BY INTERFEROMETRIC, NONCONTACT TECHNIQUE СТАНДАРТНЫЙ МЕТОД ПРОВЕДЕНИЯ ПРОВЕРКИ ПЛОСКОСТНОСТИ ПЛАСТИНЫ И КРУГА С ПОМОЩЬЮ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО, НЕКОНТАКТНОГО МЕТОДА PDF ASTM F778-1988 Standard Methods for Gas Flow Resistance Testing of Filtration Media Стандартные методы для испытаний сопротивления потоку газа фильтрующим материалам