Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F847-2002 Standard Test Methods for Measuring Crystallographic Orientation of Flats on Single Crystal Silicon Wafers by X-Ray Techniques Методы испытаний для измерения кристаллографического ориентирования плоскостей на однокристаллических пластинах кремния с использованием рентгеновских методов

Название документа
ASTM F847-2002 Standard Test Methods for Measuring Crystallographic Orientation of Flats on Single Crystal Silicon Wafers by X-Ray Techniques Методы испытаний для измерения кристаллографического ориентирования плоскостей на однокристаллических пластинах кремния с использованием рентгеновских методов
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ ASTM F847-2002 представляет собой стандартные методы испытаний, предназначенные для измерения кристаллографической ориентации плоскостей на одно кристаллических кремниевых подложках с использованием рентгеновских технологий. Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении точных и повторяемых результатов при анализе кристаллической структуры кремниевых пластин, что имеет важное значение для полупроводниковой промышленности и других смежных областей.

Стандарт описывает несколько методов, которые могут быть применены для определения кристаллографической ориентации, включая рентгеновскую дифракцию и другие рентгеновские техники. Регламентируются параметры испытаний, такие как угол облучения, длина волны рентгеновского излучения и условия обработки образцов. Эти аспекты критически важны для обеспечения достоверности получаемых данных и их сопоставимости между различными лабораториями и производственными площадками.

Важные технические детали включают необходимость соблюдения определённых условий испытаний, таких как температура и влажность, а также требования к подготовке образцов. Измеряемыми величинами являются углы отклонения и интенсивность рентгеновских отражений, что позволяет оценить степень кристалличности и ориентацию материалов. Эти параметры играют ключевую роль в контроле качества и оптимизации процессов производства полупроводниковых устройств.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей кремниевых подложек, лаборатории, занимающиеся анализом материалов, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов качества. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих процессов, что в свою очередь способствует повышению конкурентоспособности продукции на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость кремниевых материалов, используемых в высокотехнологичных приложениях. Строгое соблюдение данного стандарта помогает минимизировать риски, связанные с дефектами в материалах, и обеспечивает высокую надежность конечной продукции. В последующих редакциях стандарта были внесены изменения, касающиеся уточнения методов измерения и улучшения точности результатов, что подчеркивает его актуальность и необходимость регулярного обновления в соответствии с развитием технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF ASTM F846-1992 (R 2009) Standard Guide for Testing Performance of Amusement Rides and Devices Руководство по испытанию производительности аттракционов и устройств PDF ASTM F845-1996 Standard Specification for Plastic Insert Fittings for Polybutylene (PB) Tubing Стандартная спецификация для пластиковых вставных соединителей для трубок из полибутилена (PB) PDF ASTM F844-19 PDF ASTM F848-1983 (R 1988) STANDARD TEST METHOD FOR DETERMINING THE LATTICE CONSTANT OF SINGLE CRYSTAL GADOLINIUM GALLIUM GARNET СТАНДАРТНЫЙ МЕТОД ИСПЫТАНИЯ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛУЧИННОГО ПАРАМЕТРА ЕДИНИЧНОГО КРИСТАЛЛА ГАДОЛИНИЯ-ГАЛЛИЕВОГО СВЕТЛОПРОПУСКАЮЩЕГО СТЕКЛА PDF ASTM F849-1983 (R 1988) STANDARD TEST METHOD FOR INDENTIFICATION AND TEST OF STRUCTURES AND CONTAMINANTS SEEN ON POLISHED GADOLINIUM GALLIUM GARNET SURFACES СТАНДАРТНЫЙ МЕТОД ТЕСТИРОВАНИЯ ДЛЯ ИДЕНТИФИКАЦИИ И ТЕСТИРОВАНИЯ СТРУКТУР И ЗАГРЯЗНЕНИЙ, ВИДИМЫХ НА ПОЛИРОВАННЫХ ПОВЕРХНОСТЯХ ГАДОЛИНИУМО-ГАЛЛИЕВОГО ГАРНЕТА PDF ASTM F85-1976 (R 2018) Standard Practice for Nomenclature for Wire Leads Used as Conductors in Electron Tubes 1988) Стандартный метод испытаний для номенклатуры проводников, используемых в электронных лампах