Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ASTM F928-2002 Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates

Название документа
ASTM F928-2002 Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ

Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.